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CDM測(cè)試系統(tǒng)和晶圓級(jí)ESD全自動(dòng)測(cè)試機(jī)成交真實(shí)案例-易捷測(cè)試技術(shù)集成Hanwa預(yù)交付張家港市集成電路產(chǎn)業(yè)促進(jìn)中心搭建晶圓級(jí)CDM測(cè)試系統(tǒng)。

交付系統(tǒng)：GBITEST探針臺(tái)系統(tǒng)& Hanwa HED-C5000R CDM測(cè)試儀，HED-N5000多管腳高性能全自動(dòng)靜電放電測(cè)試機(jī)

采購(gòu)方：張家港市集成電路產(chǎn)業(yè)促進(jìn)中心是由張家港市政府與中國(guó)科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所及上海市集成電路技術(shù)與產(chǎn)業(yè)促進(jìn)中心合作共建的集成電路領(lǐng)域綜合性公共服務(wù)平臺(tái)，成立于 2018 年 11 月45。主要提供

芯片設(shè)計(jì)（EDA/IP）服務(wù)、流片代工（MPW/NTO）服務(wù)、封裝測(cè)試服務(wù)、失效分析、材料分析、競(jìng)品分析、可靠性驗(yàn)證等一系列專業(yè)技術(shù)服務(wù)。

供應(yīng)方：深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司主要業(yè)務(wù)包括提供半導(dǎo)體晶圓級(jí)測(cè)試、封裝工藝及檢測(cè)類設(shè)備，以及完整的系統(tǒng)集成服務(wù)。具體有各式探針臺(tái)系統(tǒng)、自主研發(fā)半導(dǎo)體測(cè)試軟件、探針臺(tái)升級(jí)改造服務(wù)等，可滿足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。產(chǎn)品和服務(wù)廣泛應(yīng)用于 WAT/CP 測(cè)試、I-V／C-V 測(cè)試、RF/mmW 測(cè)試、高壓 / 大電流測(cè)試、MEMS、高低溫測(cè)試、光電器件測(cè)試、硅光測(cè)試、晶圓級(jí)失效分析（包括 ESD 測(cè)試）、封裝檢測(cè)等領(lǐng)域。

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

1，全自動(dòng)CDM測(cè)試儀：

該系統(tǒng)采用自主研發(fā)的放電電路單元更換，支持國(guó)內(nèi)外各種標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方法。此外，對(duì)于2015年4月正式發(fā)布的“ANSI/ESDA/JEDEC JS002-2014”放電波形參數(shù)的施加單元，也能夠兼容。

此設(shè)備是符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的高可靠性設(shè)備(滿足JEITA / ESDA / JEDEC規(guī)格)，可通過(guò)交換放電電路組件支持日本國(guó)內(nèi)及國(guó)際的測(cè)試規(guī)格，可測(cè)量器件的各個(gè)端子的充放電能力,測(cè)試數(shù)據(jù)可保存為文本文件形式。

對(duì)應(yīng)最新標(biāo)準(zhǔn)（C5000R的第一對(duì)應(yīng)）

相應(yīng)的“ANSI / ESDA / JEDEC JS002-2014”的應(yīng)用單元，環(huán)境也可以是相應(yīng)的規(guī)范。

溫度和濕度控制（C5000R的第一對(duì)應(yīng)關(guān)系）

它可以是用氮?dú)飧稍锟諝獾臏囟群蜐穸瓤刂啤?/span>

PIN目的地的可視化（C5000R的第一對(duì)應(yīng)）

在由CCD照相機(jī)的所有的測(cè)試方法，可見(jiàn)對(duì)設(shè)備的訪問(wèn)的PIN目的地。

設(shè)備應(yīng)對(duì)

對(duì)應(yīng)于各種設(shè)備的形狀。（測(cè)量可動(dòng)范圍80毫米×200毫米）

外加電壓范圍

+/- 10V?4000V +/-（+/- 5Vstep）

規(guī)范：

試驗(yàn)機(jī)模型	HED-C5000R
相應(yīng)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)	JEDEC / ESDA / AEC / JEITA
的測(cè)試引腳的數(shù)量	1024pin或更高版本（可選）
重型電機(jī)電壓	+/- 10V?4000V +/-
跨步電壓	5V
應(yīng)用程序的數(shù)量	1?99times
間隔時(shí)間	0.3?9.9S
重型電機(jī)電壓精度	1％+ 5V
電源電壓	100-240V / 2A，50 / 60Hz的
物理尺寸	575（W）×400（D）×300（H）

重量

40公斤

對(duì)于ANSI / ESDA / JEDEC JS002-2014的“標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容是一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)，諸如合并JEDEC和ESDA的內(nèi)容。參照J(rèn)EDEC，技術(shù)缺陷的部分，已摻入ESDA。JEDEC是， “JESD22-C101F”，從ESDA，從 “ANSI / ESD S5.3.1-2009” 變化。

ANSI的/ ESDA / JEDEC JS002-2014重大變化對(duì)照表：

標(biāo)準(zhǔn)	ANSI / ESDA / JEDEC JS-002 2014	JESD22-C101F	ANSI / ESD S5.3.1-2009
測(cè)試環(huán)境	在室溫下的30％以下的濕度	在室溫下和60％以下的濕度	室溫
觀察波形示波器	1GHz的和6GHz的上市	1GHz的	上市的1GHz和3GHz的

2，HANWA HCE-N5000 全自動(dòng)晶圓ESD測(cè)試機(jī)簡(jiǎn)介：

HED-N5000|多管腳高性能全自動(dòng)靜電放電測(cè)試機(jī)_ESD/CDM/TLP測(cè)試儀_產(chǎn)品中心_深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司