深圳市易捷測試技術(shù)有限公司
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SPD2200 (單光子雪崩二極管）效率整合型測試儀
探針臺|全自動探針臺|硅光晶圓測試系統(tǒng)|半自動探針臺|手動探針臺|國產(chǎn)探針臺|Hanwa ESD/ TLP測試儀|CDM測試機|晶圓級ESD測試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測試設(shè)備、滿足實驗室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于：WAT/CP測試、I-V／C-V測試、RF/mmW測試、高壓/大電流測試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測試、光電器件測試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級失效分析、芯片ESD測試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗證、封裝測試等領(lǐng)域
SPD2200是針對最新型的單光子探測器SPD ,Single Photon Detector ,dToF LiDAR 激光雷達收發(fā)光核 心芯片測試儀，常應(yīng)用于dToF的SPAD（Single Photon Avalanche Detector)光感測器（或稱SPAD光電探測器，SPAD傳感器）的特性測試分析設(shè)備。
單光子探測器可以對單個光子進行探測和計數(shù)，在許多可獲得的信號強度僅為幾個光子能量級的新興套用中，單光子探測器可以一展身手。SPD2200是針對最新型的單光子探測器（SPD，Single Photon Detector)，如應(yīng)用于dToF的SPAD（Single Photon Avalanche Detector)光感測器的特性測試分析設(shè)備
SPD2200具備全光譜性能測試包含：
全光譜光譜響應(yīng)（SR, Spectral Responsivity）
全光譜量子效率（EQE, External Quantum Efficiency）
全光譜光子探測率（PDP, Photon Detection Probability）
暗計數(shù)DCR（Dark Count Rate）
崩潰電壓BDV（Break-Down Voltage）
SPD2200亦能夠測試SPAD的單光子辨析特性分析，包含：
Jitter
Afterpulsing probability
Diffusion tail
SNR
SPD2200整合了所有先進光學(xué)與電學(xué)系統(tǒng)，搭配光焱科技多年光感測器測試與分析的經(jīng)驗，提供完整與便利的軟體控制介面與分析功能。SPD2200可幫助您節(jié)省系統(tǒng)搭設(shè)的時間成本，并降低測試結(jié)果的不確定性。加快產(chǎn)品的開發(fā)周期，提升產(chǎn)品的競爭力。
*SPAD的暗計數(shù)與偏壓關(guān)系圖 |
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*SPAD暗計數(shù)與崩潰電壓 |
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*在不同電壓下SPAD光子探測效率的PDE光譜 |
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*SPAD的Jitter測量 |
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