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日本HANWA ESD-CDM測試儀：

ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是必不可少的。適用于汽車電子AEC-Q100標準，車規(guī)級集成電路可靠性靜電HDM/CDM測試.。

HED-C5000R臺式尺寸、緊湊、準確、可靠的 CDM 測試儀。配備CCD相機、符合國際標準JEDEC、ESDA、AEC、JEDEC、EIAJ）提供 FI-CDM 和 D-CDM 兩種模式?？蓽y量各引腳電容........

該系統(tǒng)采用自主研發(fā)的放電電路單元更換，支持國內(nèi)外各種標準的測試方法。此外，對于2015年4月正式發(fā)布的“ANSI/ESDA/JEDEC JS002-2014”放電波形參數(shù)的施加單元，也能夠兼容。

1）滿足JS-002，JEDEC，ESDA，AEC，ANSI / JEDEC JS002-2014等全球CDM模型測試規(guī)范

2）測試電壓最高可達4KV，為同類型機臺最高

3）供應商為JS-002規(guī)格制定委員會成員，技術可靠

4）硬件軟件的使用操作簡單，容易上手，為全球半導體Leading company的推薦使用機型

5）唯一具有D-AEC充放電功能的CDM測試機臺

6）它可以是用氮氣干燥空氣的溫度和濕度控制。

7）PIN目的地的可視化，在由CCD照相機的所有的測試方法，可見對設備的訪問的PIN目的地。

8）對應于各種設備的形狀。（測量可動范圍80毫米×200毫米）

9）外加電壓范圍+/- 10V?4000V +/-（+/- 5Vstep）

符合所有主要國際標準:

Standard

Standard Number

Method

Calibration tool

ESDA/JEDEC

Joint Standard

ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014

FI-CDM

Small/Large coin(disk)

JEDEC

JESD22-C101F

FI-CDM

Small/Large coin(disk)

ESDA

ANSI/ESD S5.3.1-2009

FI-CDM or D-CDM

FI-CDM: 4pF/30pF module (*1) D-CDM: 4pF/30pF module (*2)

AEC

AEC - Q100-011 Rev-C1

FI-CDM or D-CDM

FI-CDM: 4pF/30pF module (*1) D-CDM: 4pF/30pF module (*2)

JEITA

JEITA ED-4701/302 (Method 305C)

D-CDM

Small/Large coin(disk)

FR-4 board

HED-C5000R

Hanwa CDM測試機

l 符合JEDEC、ESDA、JEITA ，AEC，EIAJ），

l 可快速轉(zhuǎn)換不同標準的測試

l 臺式尺寸，緊湊，準確可靠的CDM測試儀。

l 配備的CCD攝像機

l 提供FI-CDM和D-CDM模式。

l 可以測量每個引腳的電容。

尺寸：W575 x D400 x H300 Weight 35Kg Compact Desktop Size

CDM 測試機

此設備是用來測試接觸不同電位物質(zhì)時的破壞性設備

產(chǎn)品名/型號	設備說明
HED-C5000R	此設備是符合日本及國際標準的高可靠性設備（滿足JEITA / ESDA / JEDEC規(guī)格）可通過交換放電電路組件支持日本國內(nèi)及國際的測試規(guī)格可測量器件的各個端子的容量,測試數(shù)據(jù)可保存為文本文件形式