深圳市易捷測試技術(shù)有限公司
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Hanwa Electric Products 簡介| 易捷測試GBITEST
探針臺|全自動探針臺|硅光晶圓測試系統(tǒng)|半自動探針臺|手動探針臺|國產(chǎn)探針臺|Hanwa ESD/ TLP測試儀|CDM測試機(jī)|晶圓級ESD測試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測試設(shè)備、滿足實驗室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于:WAT/CP測試、I-V/C-V測試、RF/mmW測試、高壓/大電流測試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測試、光電器件測試(硅光、CMOS,SPAD傳感器等)、晶圓級失效分析、芯片ESD測試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗證、封裝測試等領(lǐng)域
Hanwa Electric Products
阪和電子工業(yè)株式會社創(chuàng)始于1966年,上世紀(jì)80年代開始自主研發(fā)半導(dǎo)體領(lǐng)域所使用的的相關(guān)測試設(shè)備。
(ESD: Electronic Static Discharge)靜電破壞測試機(jī)最初研發(fā)時只有256pin,現(xiàn)在根據(jù)客戶的需求甚至可以做到1024pin,滿足更高階的晶圓硅片測試需求。此外,阪和電子還向解析裝置擴(kuò)展,研發(fā)出了具備多功能檢測、ESD保護(hù)電路回路等機(jī)能的TLP(Transmission Line Pulse)測試裝置。隨著公司的發(fā)展,不光受到日本本土企業(yè)的青睞,更是在全球市場上,得到了海外客戶的一致認(rèn)可。
近年來,隨著新能源汽車和汽車芯片的崛起,車規(guī)芯片的靜電測試需求都應(yīng)滿足 AEC Q101/102 ,同時對設(shè)備可視化需求的擴(kuò)大,HANWA的ESD 可視化設(shè)備也已經(jīng)在國內(nèi)外行家被多方認(rèn)可。
易捷測試是日本 Hanwa 公司的主要提應(yīng)商,主要供應(yīng)hanwa半導(dǎo)體芯片ESD測試設(shè)備,ESD全自動測試設(shè)備,晶圓ESD測試機(jī),半導(dǎo)體TLP測試儀,以及CDM測試儀