深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司
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毫米波多功能MMIC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)解決方案
隨著芯片高度集成化的要求,近幾年多功能MMIC得到廣泛應(yīng)用,同時(shí)伴隨著頻率越來越高、器件射頻端口數(shù)越來越多,對(duì)于on-wafer級(jí)別毫米波多功能MMIC測(cè)試的可靠性及測(cè)試效率面臨不小挑戰(zhàn)。
易捷測(cè)試推出對(duì)于毫米波多功能MMIC的 on-wafer 器件測(cè)試,傳統(tǒng)通常需要使用網(wǎng)絡(luò)分析儀、擴(kuò)頻模塊、測(cè)試電纜、探針臺(tái)、高精度定制電動(dòng)探針座、探針、控制及校準(zhǔn)軟件等,才能精確的測(cè)量毫米波集成電路的 S 參數(shù),全面的表征和驗(yàn)證元件的特性。深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司的毫米波多功能MMIC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)解決方案基于 Keysight PNA-X 、擴(kuò)頻模塊、半自動(dòng)探針臺(tái)、高頻探針、自主開發(fā)的高精度電動(dòng)探針座及配套控制軟件,可以覆蓋毫米波多通道芯片的測(cè)量。
擁有多通道的多功能MMIC芯片全自動(dòng)射頻測(cè)試:
射頻接收和發(fā)射一體的多通道MMIC多功能芯片的低成本全自動(dòng)測(cè)試方案可有效的解決射頻探針卡開發(fā)周期長(zhǎng)、設(shè)計(jì)費(fèi)用高等問題。使用高精度電動(dòng)探針座,配合獨(dú)有的AOI視覺輔助軟件能在芯片南、北方向數(shù)字波控端扎針的情況下,可輕松實(shí)現(xiàn)射頻探針在芯片的東、西方向多個(gè)射頻端口上進(jìn)行自由切換,通過不同的發(fā)碼,開啟不同通道的射頻功能??纱钶d在半自動(dòng)或全自動(dòng)機(jī)臺(tái)上實(shí)現(xiàn)wafer級(jí)的量產(chǎn)測(cè)試。
測(cè)試指標(biāo): 射頻功放芯片全參數(shù)、低噪聲放大器芯片全參數(shù),開關(guān)芯片全參數(shù)
易捷測(cè)試集成基于 Keysight PNA-X 、擴(kuò)頻模塊、半自動(dòng)探針臺(tái)、高頻探針、自主開發(fā)的高精度電動(dòng)探針座及配套控制軟件的一套毫米波多功能MMIC自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)解決方案:
測(cè)試系統(tǒng)包括:
Keysight PNA-X 、擴(kuò)頻模塊、半自動(dòng)探針臺(tái)、高頻探針、自主開發(fā)的高精度電動(dòng)探針座及配套控制軟件,
具有以下優(yōu)勢(shì):
基于Keysight PNAX 、擴(kuò)頻模塊,進(jìn)一步提高測(cè)試精度高;
多功能MMIC射頻端口數(shù)較多,通過高精度電動(dòng)探針座即可實(shí)現(xiàn)單個(gè)DIE上多端口的自動(dòng)扎針;然后利用半自動(dòng)探針臺(tái)實(shí)現(xiàn)全片測(cè)試的移動(dòng)。
使用高頻的探針可支持毫米波芯片的測(cè)量,獨(dú)有的功率校準(zhǔn)軟件能校準(zhǔn)到探針,提高更好的系統(tǒng)穩(wěn)定性。