深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司
深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司
電話:0755-83698930
郵箱:dongni.zhang@gbit.net.cn
地址:深圳市福田區(qū)福虹路9號(hào)世貿(mào)廣場(chǎng)C座1203室
SPAD是一種光電探測(cè)器,是單光子探測(cè)技術(shù)的硬件核心。這些器件可檢測(cè)分辨率低至單光子水平的低強(qiáng)度信號(hào)。SPAD 用于 dToF LiDAR、自動(dòng)駕駛汽車、無人機(jī)、機(jī)器人和機(jī)器視覺系統(tǒng)。它們還用于生物醫(yī)學(xué)成像和診斷系統(tǒng),例如正電子發(fā)射斷層掃描、熒光壽命成像顯微鏡、超分辨率顯微鏡和近紅外成像。
SPAD(Single photon avalanche diodes)單光子雪崩二極管,當(dāng)工作電壓高于VBD(雪崩擊穿電壓)的時(shí)候,工作在蓋革模式下,具體器件原理就不展開講了, 可以簡(jiǎn)單的理解為當(dāng)光子來臨的時(shí)候,觸發(fā)了SPAD的雪崩效應(yīng)(avalanche):由于SPAD內(nèi)部高反偏電場(chǎng),光子轉(zhuǎn)換產(chǎn)生的少量電子使SPAD產(chǎn)生雪崩狀態(tài),此時(shí)光電轉(zhuǎn)換增益理論為無窮大,產(chǎn)生一個(gè)可以被TDC捕捉的數(shù)字信號(hào),此時(shí)就被記為一個(gè)光子到來了,雪崩后spad無法自己快速回到初始狀態(tài),需要淬滅(quench)電路的幫助:由雪崩后產(chǎn)生大量電流流過淬滅電路,SPAD兩端的偏壓低于擊穿電壓,抑制了雪崩電流,使得SPAD電流關(guān)閉,隨后通過對(duì)SPAD通電,回到初始狀態(tài)。從雪崩到回到初始狀態(tài)所需的時(shí)間,被稱為死區(qū)時(shí)間(dead time),死區(qū)時(shí)間通常可以通過淬滅電流來調(diào)整。
這里補(bǔ)充一點(diǎn):雖然名為單光子計(jì)數(shù),實(shí)際上單個(gè)光子不一定能觸發(fā)雪崩,這取決于SPAD的PDE(Photon detection efficiencies)光子探測(cè)效率,但即便如此,SPAD對(duì)于光子的靈敏度也是很高的,遠(yuǎn)高于APD,所以SPAD的激光雷達(dá)的優(yōu)勢(shì)之一就是所需光源的功率會(huì)很?。ㄟ@對(duì)人眼安全要求class one的應(yīng)用來說往往是比較重要的)
另一方面,晶圓級(jí)測(cè)試會(huì)很大程度降低后期質(zhì)量問題。易捷測(cè)試以探針臺(tái)自動(dòng)晶圓測(cè)試系統(tǒng)為核心,結(jié)合高均勻度單色光源系統(tǒng)(400nm - 1700nm),針對(duì)ALS/CIS/SPAD/光傳感器芯片的測(cè)試解決方案。SG-O系統(tǒng)不僅可以處理標(biāo)準(zhǔn)8英寸(200mm)晶圓, 也可以擴(kuò)展處理12英寸(300mm)晶圓和大于1cm x 1cm的芯片(Die)。此外,該方案還集成了超低噪音熱卡盤(Thermal Chuck),溫度范圍涵蓋-60℃ ~ 180℃,可快速升溫、穩(wěn)定性高。SG-O提供您在CIS/ALS/SPAD/光傳感器晶圓設(shè)計(jì)驗(yàn)證或工藝良率檢查所需要的一切。
SPD2200是商用級(jí)新型SPAD單光子探測(cè)器特性分析設(shè)備,該設(shè)備體積小,直接整合了光學(xué)及電學(xué)系統(tǒng),結(jié)合便利的軟體控制介面與分析功能,可在生產(chǎn)線上快速搭建是其優(yōu)勢(shì)。可應(yīng)用于開發(fā)Lidar中核心零組件SPAD單光子雪崩二極管的特性測(cè)試分析,以滿足客戶在開發(fā)dTof模組所需測(cè)量各種參數(shù)。
SPD2200是單光子雪崩二極體效率整合型測(cè)試儀,共有全光譜特性測(cè)試模組(SDTM)與時(shí)域特性測(cè)試模組(TDTM)兩種模組,可針對(duì)不同測(cè)量場(chǎng)景選擇使用,也可同時(shí)兼被兩種模組,進(jìn)行全方面完整測(cè)量。
1)對(duì)全光譜性能參數(shù)測(cè)試分析如下:
全光譜光譜響應(yīng)(Spectral Responsivity)
全光譜量子效率(External Quantum Efficiency)
全光譜光子探測(cè)率(Photon Detection Probability)
暗計(jì)數(shù)DCR(Dark Count Rate)
崩潰電壓BDV(Break-Down Voltage)
2)SPAD的單光子雪崩二極管特性參數(shù)分析:
Jitter
Afterpulsing probability
Diffusion tail
SNR
單光子雪崩二極管高效全光譜表征解決方案