深圳市易捷測試技術(shù)有限公司
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電話：0755-83698930
郵箱：dongni.zhang@gbit.net.cn
地址：深圳市福田區(qū)福虹路9號世貿(mào)廣場C座1203室
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易捷測試為行業(yè)客戶提供完整和高級的半導(dǎo)體可靠性測試系統(tǒng)，包括針對包裝級和晶圓級可靠性特征的設(shè)計(jì)，以符合DefaTso標(biāo)準(zhǔn)。
HCI/BTI/GOI/TDDB封裝級可靠性測試儀 |
| HCI/BTI/TDDB/DCEM封裝級可靠性測試儀配備了JEDEC符合JEDEC的測試要求，以實(shí)現(xiàn)高級和準(zhǔn)確的MOSFET HCI，NBTI，NBTI和OTF可靠性資格。 |
HCI/BTI/GOI/TDDB晶圓級可靠性測試儀 |
| GOI/TDDB晶圓級可靠性測試儀其他快速VTDDB和多電壓級別VSILC功能允許連續(xù)應(yīng)力偏置，并在短時(shí)間間隔監(jiān)視WLR應(yīng)用程序的高分辨率時(shí)間內(nèi)進(jìn)行短間隔監(jiān)視。 |
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