深圳市易捷測試技術(shù)有限公司
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高壓大電流半自動探針臺TS2000-HP/TS3000-HP/TS200-HP
探針臺|全自動探針臺|硅光晶圓測試系統(tǒng)|半自動探針臺|手動探針臺|國產(chǎn)探針臺|Hanwa ESD/ TLP測試儀|CDM測試機|晶圓級ESD測試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測試設(shè)備、滿足實驗室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應用于:WAT/CP測試、I-V/C-V測試、RF/mmW測試、高壓/大電流測試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測試、光電器件測試(硅光、CMOS,SPAD傳感器等)、晶圓級失效分析、芯片ESD測試、半導體工藝可靠性驗證、封裝測試等領(lǐng)域
MPI的TS2000-HP半自動化探針臺測試系統(tǒng)可提供8英寸及以下晶圓器件的高功率測量,先進的ShielDEnvironment?可提供低噪聲和屏蔽的測試環(huán)境。
產(chǎn)品信息:
安全系統(tǒng)
采用可互鎖的安全光幕,可通過互鎖系統(tǒng)關(guān)閉儀器,保護用戶免受意外高壓沖擊,該系統(tǒng)具有后門,并由互鎖保護,以提供簡便的初始安全測量設(shè)置。
ShielDEnvironment?
MPI ShielDEnvironment?是一個高性能的微暗室屏蔽系統(tǒng),可為超低噪聲、低電容測量提供出色的EMI和不透光的屏蔽測試環(huán)境。為了防止卡盤和壓盤之間產(chǎn)生電弧,TS2000-HP卡盤專門設(shè)計了ArcShield?。
高壓探針(HVP)
低泄漏探頭專門設(shè)計,可承受高達10kV(同軸)和3kV(三軸)的高壓??蛇x擇多種連接器選項,如Keysight Triax / UHV,Keithley Triax / UHV,SHV或Banana等。
大電流探針(HCP)
專為用于高達200A(脈沖)的大電流晶片測量而設(shè)計的高性能探針。MPI多指大電流探頭采用單片結(jié)構(gòu),可有效處理大電流并提供低接觸電阻。
高功率測試系統(tǒng)
該測試系統(tǒng)提供了一個一體化的解決方案,用于表征2極和3極功率器件,如場效應(FET)、雙極結(jié)(BJTs)晶體管、二極管、電容器(高達3 kV和100 A)。只要插入一個DUT,就可以測量斷開狀態(tài)和接通狀態(tài)的所有相關(guān)參數(shù)以及特性電容(Ciss、Coss Crss)。IV特性可以在脈沖模式下進行,也可以在直流模式下進行。這樣可以提高效率并防止任何重新布線錯誤。
超快動態(tài)RDS(on)
超快速動態(tài)RDS(on)測試是被設(shè)計用來表征GaN晶體管的特性的。電力電子學的一個關(guān)鍵要求是在從高壓離態(tài)切換到低壓導通狀態(tài)后立即獲得非常低的導通電阻(RON)。超快動態(tài)RDS(on)測試能夠在關(guān)閉和打開狀態(tài)之間切換后立即測量RDS(on)。第一個RDS(on)值在大約1 us后生成。該系統(tǒng)是為高達100A(脈沖電流)或高達1kV電壓而設(shè)計的。由于探針的特殊設(shè)計,可以測量更多參數(shù)(泄漏或者其他)。
自動化晶圓裝載系統(tǒng)
自動化的單晶片裝載機和安全測試管理提供了獨特的功能,可以在任何溫度下裝載/卸載晶片。裝載或卸載晶片不再需要冷卻或加熱到環(huán)境溫度。這樣可以節(jié)省大量的停機時間,并顯著提高MPI測試系統(tǒng)的整體效率,同時,管理員方便的登錄過程有利于產(chǎn)品的設(shè)置和保護。
可選的防電弧液體托盤
專門設(shè)計的防電弧液體托盤,只需放在大功率卡盤表面,即可用于抑制電弧。晶圓可以安全地放置在托盤內(nèi),浸沒在液體中進行無電弧高壓測試。
軟件套件SENTIO?
MPI自動工程探針系統(tǒng)由獨特且革命性的多點觸摸操作控制SENTIO?軟件套件,簡單直觀的操作節(jié)省了大量的培訓時間?!皾L動”,“縮放”,“移動”命令模仿了現(xiàn)代智能移動設(shè)備,使每個人都可以在短短幾分鐘內(nèi)成為專家。在活動應用程序與其余APP之間的切換僅需簡單的手指操作即可。對于RF應用系統(tǒng),無需切換到另一個軟件平臺——MPI RF校準軟件程序QAlibria?與SENTIO?完全集成在一起,遵循單一操作概念方法,易于使用。