深圳市易捷測試技術(shù)有限公司
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PCB探針臺高頻
探針臺|全自動探針臺|硅光晶圓測試系統(tǒng)|半自動探針臺|手動探針臺|國產(chǎn)探針臺|Hanwa ESD/ TLP測試儀|CDM測試機(jī)|晶圓級ESD測試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測試設(shè)備、滿足實驗室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于：WAT/CP測試、I-V／C-V測試、RF/mmW測試、高壓/大電流測試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測試、光電器件測試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級失效分析、芯片ESD測試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗證、封裝測試等領(lǐng)域
PCB高頻測試平臺
為在大面積PCB的高精射頻參數(shù)確表征而設(shè)計。該測試平臺以其卓越的性能和多功能性，為高頻測量提供了一個高穩(wěn)定性的解決方案。
主要特點：
· 高頻率支持：支持高達(dá)110GHz的射頻測量，滿足高頻通信和電子設(shè)備測試的需求。同時可自由搭載TDR探針實現(xiàn)測試工作。
· 高穩(wěn)定性平臺：設(shè)備采用高穩(wěn)定性臺體設(shè)計，確保在高頻測量過程中的穩(wěn)定性和可靠性。
· 雙面測量支持：支持PCB的雙面測量，提高了測試的靈活性和效率。
· 大尺寸適應(yīng)性：最大支持1000mm x 600mm PCB尺寸，且提供快速定制服務(wù)以適應(yīng)更大尺寸的需求。
· 先進(jìn)的成像系統(tǒng)：配備多CCD成像系統(tǒng)，實現(xiàn)高清晰度的圖像捕捉和精確的定位。
· 結(jié)構(gòu)設(shè)計：采用鎖止器設(shè)計，增強(qiáng)了高頻測量時的穩(wěn)定性和安全性。帶有儀表支架，安裝后即可快速使用
系統(tǒng)組成：
· 高穩(wěn)定性臺體
· 大范圍探針座（射頻探針定位器）移動平臺
· 專用校準(zhǔn)卡盤
· 易操作的PCB夾持器
· 高穩(wěn)定性多CCD成像系統(tǒng)
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