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HANWA HED-W5100D/W5300D全自動晶圓ESD測試機
探針臺|全自動探針臺|硅光晶圓測試系統(tǒng)|半自動探針臺|手動探針臺|國產(chǎn)探針臺|Hanwa ESD/ TLP測試儀|CDM測試機|晶圓級ESD測試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測試設備、滿足實驗室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應用于：WAT/CP測試、I-V／C-V測試、RF/mmW測試、高壓/大電流測試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測試、光電器件測試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級失效分析、芯片ESD測試、半導體工藝可靠性驗證、封裝測試等領域
ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是必不可少的。
日本 Hanwa esd 晶圓級測試解決方案
HED-W5100D /W5300D
全自動晶圓ESD測試機
全球唯一可測試12英寸 300mm晶圓ESD全自動靜電測試機臺。
測試效率高，自動探針臺和晶圓映射程序啟用了全自動晶圓級ESD測試
同時支持package測試
HBM波形滿足JS-001，JEDEC，ESDA，AEC，JEITA以及GJB等全球所有靜電測試規(guī)范
全球半導體晶圓制造LEADING COMPANY 青睞機臺，該系列產(chǎn)品在全球范圍廣泛使用
Woks 集成在一起，作為不帶插座板的高引腳數(shù)封裝級測試儀。
SCM（10pF浪涌）選項可用。
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