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自動探針臺新機(jī)：TS2000-IFE 系列

TS2000-IFE 是一個自動化探針臺，可以從使用一開始或在測試領(lǐng)域內(nèi)任何需要時轉(zhuǎn)換為帶有 Waferwallet MAX 的全自動探針臺。主要應(yīng)用在負(fù)載拉動、RF、mmW、硅光子學(xué)、設(shè)計驗(yàn)證（產(chǎn)品工程）或在定義的測試環(huán)境中測試 MEMS 和其他傳感器。

產(chǎn)品簡介：

我們推出用于太赫茲應(yīng)用的 200 毫米自動探針臺系統(tǒng)。

我們提供其200 mm TS2000-IFE THZ-Selection 自動探針臺系統(tǒng)。THZ-Selection 是一種專用的射頻、毫米波、太赫茲和負(fù)載牽引探針臺，在 -60 至 300 oC 的寬工作溫度范圍內(nèi)不會影響測量方向性。它基于 MPI 最通用的 200 毫米平臺 - TS2000-IFE 系列。

200 毫米晶圓的自動化在片測試探針臺系統(tǒng)常用來執(zhí)行以下操作：

無需額外的 S 波段波導(dǎo)，尤其是在亞太赫茲或太赫茲范圍內(nèi)。
最小化負(fù)載牽引應(yīng)用的信號路徑并提供最寬的調(diào)諧范圍和最高GAMMA。
切換頻段時操作簡單方便。

MPI 專有的 IceFreeEnvironment 技術(shù)允許 THZ-Selection 在微定位器和探針卡的幫助下在負(fù)溫度下運(yùn)行。該測試系統(tǒng)能夠通過具有可編程微觀運(yùn)動的集成探針控制提供晶圓級可靠性。主動隔振緩沖了測試過程中振動誤差的發(fā)生。這些功能支持自動化測試，沒有任何錯誤余地，并且具有可驗(yàn)證的準(zhǔn)確性。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

專為各種在線應(yīng)用而設(shè)計

? 直流-IV/直流-CV/脈沖-IV應(yīng)用

? 硅光子學(xué)

? 射頻，毫米W，負(fù)載拉應(yīng)用和4端口設(shè)置

? 集成電路設(shè)計驗(yàn)證，在-60~300°C寬溫度范圍內(nèi)的失效分析

? 晶圓級可靠性擴(kuò)展靈活性

擴(kuò)展的靈活性

? MPI無冰環(huán)境?用于同時使用微型定位器和探針卡，即使在負(fù)溫度

? 可編程顯微鏡運(yùn)動，以更自動化和易于使用

? 到IC測試儀的最短電纜接口

? 最大限度地減少毫米W和探測與主動探針的板到吸盤的距離

? 支持膠片幀探測

人體工程學(xué)設(shè)計和足跡

? 簡單的晶片或單個DUT從前面加載

? 集成主動隔振

? 完全集成Prober控制，用于更快、更安全、更方便的系統(tǒng)和測試操作

? 具有自動露點(diǎn)控制的安全測試管理(STM?

? 減少足跡，因?yàn)橹悄芾渌畽C(jī)組的空間安排

儀表架選擇較短的電纜和更高的測量動態(tài)