深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司
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多功能全自動(dòng)芯片貼片固晶機(jī) TB-1000
探針臺(tái)|全自動(dòng)探針臺(tái)|硅光晶圓測(cè)試系統(tǒng)|半自動(dòng)探針臺(tái)|手動(dòng)探針臺(tái)|國(guó)產(chǎn)探針臺(tái)|Hanwa ESD/ TLP測(cè)試儀|CDM測(cè)試機(jī)|晶圓級(jí)ESD測(cè)試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測(cè)試設(shè)備、滿足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于：WAT/CP測(cè)試、I-V／C-V測(cè)試、RF/mmW測(cè)試、高壓/大電流測(cè)試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測(cè)試、光電器件測(cè)試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級(jí)失效分析、芯片ESD測(cè)試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗(yàn)證、封裝測(cè)試等領(lǐng)域
易捷測(cè)試針對(duì)高標(biāo)準(zhǔn)的芯片貼裝應(yīng)用，提供高技術(shù)力的多功能貼片固晶系統(tǒng)以及高底定制化的方案服務(wù)，尤其是對(duì)于超薄存儲(chǔ)芯片的堆疊裝片具有突出表現(xiàn)。
| 功能：
特點(diǎn)：
|
項(xiàng)目 | 規(guī)格 |
WAFER 尺寸 | 8、12英寸 |
芯片尺寸 | 0.5~25mm |
芯片厚度 | 20~700μm Option:≥20μm |
貼片精度 | ≤ ±10μm/≤ ±0.1° |
UPH | 10,000 |
SUBSTRATE 尺寸 | 100~300mm(L),30~100mm(W) 0.1~1.2mm(Thickness) |
BONDING FORCE | 25~3000g ±5% |
設(shè)備尺寸 | 2100(W)x1450(D)x1550(H) mm |
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