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閉循環(huán)低溫探針臺
探針臺|全自動探針臺|硅光晶圓測試系統(tǒng)|半自動探針臺|手動探針臺|國產(chǎn)探針臺|Hanwa ESD/ TLP測試儀|CDM測試機|晶圓級ESD測試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測試設(shè)備、滿足實驗室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于：WAT/CP測試、I-V／C-V測試、RF/mmW測試、高壓/大電流測試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測試、光電器件測試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級失效分析、芯片ESD測試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗證、封裝測試等領(lǐng)域
該低溫探針臺是性價比很高的一款無需消耗制冷劑，依靠制冷機提供冷源的閉循環(huán)低溫探針臺。此款低溫探針臺設(shè)計的初衷就是多功能和卓越的專業(yè)測量性能，為制冷劑獲得比較困難和追求操作便利的客戶提供了一個完美的解決方案。通過閉循環(huán)制冷機降溫，降溫過程中不需要其它輔助設(shè)備，只需要很少的電能即可，也不需要科研人員值守操作。
豐富的選件和配置確保科研人員能夠?qū)嵤﹪揽恋?、富有挑?zhàn)的測試測量。是目前能實現(xiàn)較低溫度的探針臺之一，最低溫度低于5K。多個溫度傳感器分布于探針臺各個位置，確保溫度監(jiān)視和測量的準確性和重復(fù)性。由于是二級制冷平臺制冷機提供冷源，這樣能保證樣品溫度維持在相對較高的溫度，同時樣品處于真空環(huán)境中，減少了凝結(jié)的可能性，在一些有機材料的嚴格測試要求中這一點比較重要。
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