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全自動探針臺| 東京精密TSK探針臺|FAB廠常用探針臺UF3000EX
探針臺|全自動探針臺|硅光晶圓測試系統(tǒng)|半自動探針臺|手動探針臺|國產(chǎn)探針臺|Hanwa ESD/ TLP測試儀|CDM測試機|晶圓級ESD測試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測試設備、滿足實驗室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應用于：WAT/CP測試、I-V／C-V測試、RF/mmW測試、高壓/大電流測試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測試、光電器件測試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級失效分析、芯片ESD測試、半導體工藝可靠性驗證、封裝測試等領域
Accretech UF3000系列 全自動探針臺，采用與UF3000EX同樣的基本結構。高精度、低成本、高性能的探針臺。
自動晶圓探測機（以下簡稱探測器）UF3000EX-e的設計具有以下特點，用于LSI和VLSI。
●應用于大直徑晶圓（φ300 mm，高達12英寸） ●自動操作系統(tǒng) ●清潔環(huán)境 ●高精度探測 ●高通量 ●低振動 ●高剛度級多位點探測 |
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采用新開發(fā)的專有XY驅動系統(tǒng)，實現(xiàn)了高速，低振動。
與現(xiàn)有產(chǎn)品相比，考慮到環(huán)境因設計變化而實現(xiàn)的占地面積小，功耗降低10％
從高溫到低溫采用的測試環(huán)境
用于測試頭的鉸鏈式機械手
低噪音測試環(huán)境
高壓測試環(huán)境
種類繁多的網(wǎng)絡環(huán)境
針道檢查功能
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