深圳市易捷測試技術(shù)有限公司
深圳市易捷測試技術(shù)有限公司
電話:0755-83698930
郵箱:dongni.zhang@gbit.net.cn
地址:深圳市福田區(qū)福虹路9號世貿(mào)廣場C座1203室
一直以來,可靠性測試都是確保半導(dǎo)體設(shè)備在特定生命周期內(nèi)維持所需性能的一計良策。隨著IC制造商不斷引入創(chuàng)新工藝以及縮小設(shè)備尺寸,他們需要確保這些變化所帶來的額外復(fù)雜性不會影響IC的長期可靠性。另外,自動駕駛、基于云的數(shù)據(jù)存儲和生命科學(xué)等高新科技領(lǐng)域的主要技術(shù)發(fā)展趨勢正迫使芯片供應(yīng)商更嚴格地保證為任務(wù)關(guān)鍵型應(yīng)用客戶提供的產(chǎn)品的可靠性。
這兩大趨勢促使半導(dǎo)體制造商大幅增加所采集和分析的可靠性數(shù)據(jù)量,同時降低測試成本。在面對以更低成本獲取更多數(shù)據(jù)這一問題時,許多可靠性工程師發(fā)現(xiàn),使用傳統(tǒng)的可靠性解決方案無法解決此問題,因此他們開始轉(zhuǎn)向靈活且可擴展的模塊化解決方案來滿足自身的需求。
全合一Per-Pin可靠性測試系統(tǒng)
特點與優(yōu)勢:
支持所有可靠性測試需求,例如HCI, BTI, OTF, TDDB, EM等等。
完整的HCI, GOI和EM全合一可靠性測試驗證能力
最多960個per-pin SMUs,支持可靠性平行測試 :
HCI/BTI最多達480個晶體管
GOI 最多達960個柵氧化物
EM最多達480個互連