深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司
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低溫阻抗調(diào)諧器LNA測(cè)量設(shè)備
探針臺(tái)|全自動(dòng)探針臺(tái)|硅光晶圓測(cè)試系統(tǒng)|半自動(dòng)探針臺(tái)|手動(dòng)探針臺(tái)|國(guó)產(chǎn)探針臺(tái)|Hanwa ESD/ TLP測(cè)試儀|CDM測(cè)試機(jī)|晶圓級(jí)ESD測(cè)試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測(cè)試設(shè)備、滿足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于：WAT/CP測(cè)試、I-V／C-V測(cè)試、RF/mmW測(cè)試、高壓/大電流測(cè)試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測(cè)試、光電器件測(cè)試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級(jí)失效分析、芯片ESD測(cè)試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗(yàn)證、封裝測(cè)試等領(lǐng)域
低溫阻抗調(diào)諧器
CT系列低溫自動(dòng)調(diào)諧器由外部控制器驅(qū)動(dòng)，該控制器通過內(nèi)置的接線連接到調(diào)諧器，并通過直接SCPI命令進(jìn)行USB控制。
特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)
專為4K以下應(yīng)用設(shè)計(jì)的固態(tài)自動(dòng)阻抗調(diào)諧器
對(duì)不匹配的晶體管或現(xiàn)有LNA執(zhí)行噪聲參數(shù)（NP）測(cè)量
評(píng)估噪聲和增益曲線，并確定滿足設(shè)計(jì)要求的最佳阻抗匹配
構(gòu)建匹配網(wǎng)絡(luò)，優(yōu)化LNA性能
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