深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司
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方案簡(jiǎn)介：
半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是一種用于分析半導(dǎo)體器件電學(xué)特性的設(shè)備，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件的研發(fā)和評(píng)估。gbitest半導(dǎo)本參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)為滿足不同參數(shù)測(cè)試，如直流、高頻、高功率等特性測(cè)試功能，包括電流電壓(I/V)測(cè)試、電容電壓(C/V)特性測(cè)試、脈沖式iv測(cè)試、任意線性波形發(fā)生與測(cè)量、信號(hào)完整性、低頻噪聲測(cè)等。 半導(dǎo)體整個(gè)生產(chǎn)工藝過(guò)程中，半導(dǎo)體特性測(cè)試是驗(yàn)證芯片是否滿足初步設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)和功能的關(guān)鍵一步。GBITEST半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)精簡(jiǎn)，簡(jiǎn)單的系統(tǒng)將會(huì)更加高效，易捷測(cè)試通過(guò)對(duì)探針臺(tái)靈活配置不同類型的光學(xué)顯微鏡、探針及兼容測(cè)量?jī)x器儀表，同時(shí)還可滿足未來(lái)可升級(jí)擴(kuò)展，模塊化需求。該測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)置專業(yè)的測(cè)試軟件gbitest，為用戶提供了分布式模塊化，圖形化管理架構(gòu)，可擴(kuò)展性高，即托即用，快速高效。其被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件，光電材料，先進(jìn)材料與器件的測(cè)試。 |
方案主要功能：
測(cè)試指標(biāo)配合半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
器件的i/v參數(shù)提取 | 芯片的cv參數(shù)提取 | 脈沖參數(shù)提取 |
| DC測(cè)試（常用） | CV測(cè)試（常用） |
| GBITEST測(cè)試系統(tǒng)軟件+KEYSIGHT 4156C/B1505/4200半導(dǎo)體參數(shù)分析儀+探針臺(tái) | GBITEST測(cè)試系統(tǒng)軟件+KEYSIGHT 4282/B1505/B1500C，添加MFCMN模塊 |
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