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國產(chǎn)探針臺|直流射頻測試探針臺
探針臺|全自動(dòng)探針臺|硅光晶圓測試系統(tǒng)|半自動(dòng)探針臺|手動(dòng)探針臺|國產(chǎn)探針臺|Hanwa ESD/ TLP測試儀|CDM測試機(jī)|晶圓級ESD測試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測試設(shè)備、滿足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于：WAT/CP測試、I-V／C-V測試、RF/mmW測試、高壓/大電流測試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測試、光電器件測試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級失效分析、芯片ESD測試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗(yàn)證、封裝測試等領(lǐng)域
8英寸手動(dòng)探針臺應(yīng)用：專門為升級和擴(kuò)展所設(shè)計(jì)的各種選項(xiàng)，可輕松實(shí)現(xiàn)如負(fù)載牽引系統(tǒng)、太赫茲系統(tǒng)、輻照系統(tǒng)、1/f噪聲等系統(tǒng)的搭載，該探針臺系統(tǒng)也可根據(jù)您的未來項(xiàng)目需求進(jìn)行重新配置。 GBITEST-200擁有穩(wěn)定且可靠的測試平臺，保證測試中的扎針質(zhì)量。優(yōu)異的光學(xué)系統(tǒng)結(jié)合分辨率＜2μm的針座系統(tǒng)，確保扎針的穩(wěn)定性。在直流應(yīng)用中，GBITEST-200高品質(zhì)的電纜和三軸信號通路，可使DUT特性分析達(dá)到Fa 標(biāo)準(zhǔn)；射頻應(yīng)用中，通過縮短擴(kuò)頻模塊與探針之間連接器的距離，可高效且更好地實(shí)現(xiàn)THz內(nèi)器件高品質(zhì)參數(shù)的提取。優(yōu)益的三軸低漏點(diǎn)載物臺的選件，能夠給器件測試帶來更多的信心。
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