深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司
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50GHz射頻探針直流/高壓/射頻/光電探針-T50
探針臺(tái)|全自動(dòng)探針臺(tái)|硅光晶圓測(cè)試系統(tǒng)|半自動(dòng)探針臺(tái)|手動(dòng)探針臺(tái)|國(guó)產(chǎn)探針臺(tái)|Hanwa ESD/ TLP測(cè)試儀|CDM測(cè)試機(jī)|晶圓級(jí)ESD測(cè)試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測(cè)試設(shè)備、滿(mǎn)足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于：WAT/CP測(cè)試、I-V／C-V測(cè)試、RF/mmW測(cè)試、高壓/大電流測(cè)試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測(cè)試、光電器件測(cè)試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級(jí)失效分析、芯片ESD測(cè)試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗(yàn)證、封裝測(cè)試等領(lǐng)域
TITAN?探針實(shí)現(xiàn)了基于微同軸電纜的探針技術(shù)與MEMS制成的探針頭的獨(dú)特結(jié)合。共面探針尖端的特性阻抗完美匹配，并且從整個(gè)探針到被測(cè)器件（DUT）的焊盤(pán)之間的信號(hào)傳輸均經(jīng)過(guò)優(yōu)化，可提供出色的探針電氣特性。同時(shí)，探針尖端的獨(dú)特設(shè)計(jì)可在任何類(lèi)型的墊金屬化材料上提供最少的探針前滑，從而在110 GHz的頻率范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確且可重復(fù)的測(cè)量。TITAN?探頭適用于在小焊盤(pán)上進(jìn)行探測(cè)，且探頭壽命長(zhǎng)且擁有成本低。
TITAN?探頭系列包含用于RF和毫米波IC的工程和設(shè)計(jì)調(diào)試的雙探頭以及用于高達(dá)110 GHz的S參數(shù)表征的高端毫米波范圍探頭，用于高性能微波設(shè)備的建模。
產(chǎn)品型號(hào)： | T50P |
測(cè)試類(lèi)型： | 射頻 |
頻率范圍： | DC~50GH |
針尖距離： | 50 μm至250 μm |
溫度范圍： | -60 to 175 °C |
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