深圳市易捷測試技術(shù)有限公司
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電話:0755-83698930
郵箱:dongni.zhang@gbit.net.cn
地址:深圳市福田區(qū)福虹路9號世貿(mào)廣場C座1203室
Keithely 4200A-SCS
探針臺|全自動探針臺|硅光晶圓測試系統(tǒng)|半自動探針臺|手動探針臺|國產(chǎn)探針臺|Hanwa ESD/ TLP測試儀|CDM測試機(jī)|晶圓級ESD測試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測試設(shè)備、滿足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于:WAT/CP測試、I-V/C-V測試、RF/mmW測試、高壓/大電流測試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測試、光電器件測試(硅光、CMOS,SPAD傳感器等)、晶圓級失效分析、芯片ESD測試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗(yàn)證、封裝測試等領(lǐng)域
產(chǎn)品概要:
4200A-SCS 是一種可以量身定制、全面集成的半導(dǎo)體參數(shù)分析儀,可以同步查看電流電壓 (I-V)、電容電壓 (C-V) 和超快速脈沖式 I-V 特性。作為性能很高的參數(shù)分析儀,4200A-SCS加快了半導(dǎo)體、材料和工藝開發(fā)速度。
I-V 源測量單元 (SMU)
● ± 210 V/100 mA 或 ± 210 V/1 A 模塊
● 100 fA 測量分辨率
● 選配前端放大器提供了 0.1 fA 測量分辨率
● 10 mHz - 10 Hz 超低頻率電容測量
● 四象限操作
● 2 線或 4 線連接
C-V 多頻率電容單元 (CVU)
● AC 阻抗測量 (C-V, C-f, C-t)
● 1 kHz - 10 MHz 頻率范圍
● ± 30 V (60V差分)內(nèi)置 DC 偏置源,可以擴(kuò)展到 ± 210 V(420 V 差分 )
● 選配 CVIV 多功能開關(guān),在 I-V 測量和 C-V 測量之間簡便切換
脈沖式 I-V 超快速脈沖測量單元 (PMU)
● 兩個獨(dú)立的或同步的高速脈沖 I-V 源和測量通道
● 200 MSa/s,5 ns 采樣率
● ±40 V (80 V p-p),±800 mA
● 瞬態(tài)波形捕獲模式
● 任意波形發(fā)生器Segment ARB?模式,支持多電平脈沖波形,10ns可編程分辨率
高壓脈沖發(fā)生器單元 (PGU)
● 兩個高速脈沖電壓源通道
● ±40 V (80 V p-p),± 800 mA
● 任意波形發(fā)生器Segment ARB?模式,支持多電平脈沖波形,10ns可編程分辨率
-V/C-V 多開關(guān)模塊 (CVIV)I
● 在 I-V 測量和 C-V 測量之間簡便切換,無需重新布線或 抬起探針
● 把 C-V 測量移動到任意端子,無需重新布線或抬起探針
遠(yuǎn)程前端放大器 / 開關(guān)模塊 (RPM)
● 在 I-V 測量、C-V 測量和超快速脈沖 I-V 測量之間自動切換
● 把 4225-PMU 的電流靈敏度擴(kuò)展到數(shù)十皮安
● 降低電纜電容效應(yīng)
1、隨時可以投入使用、可以修改的應(yīng)用測試、項(xiàng)目和器件,縮短測試開發(fā)時間
2、內(nèi)置測量視頻的儀器,測試視頻由全球應(yīng)用工程師提供,分為4種語言,縮短學(xué)習(xí)周期
3、pin to pad接觸檢查,確保測量可靠
4、多種測量功能
5、數(shù)據(jù)顯示、分析和代數(shù)運(yùn)算功能
6、專家視頻,降低特性分析復(fù)雜度,觀看吉時利全球應(yīng)用工程師制作的內(nèi)置視頻,迅速掌握應(yīng)用,縮短學(xué)習(xí)周期。數(shù)小時的專家測量專業(yè)幫助,在發(fā)生意想不到的結(jié)果或?qū)υ鯓釉O(shè)置測試存在疑問時,將為您提供指引。Clarius Software短專家視頻支持四種語言(英語、中文、日語和韓語),可以迅速讓你洞察先機(jī)。
7、大量隨時可以使用的應(yīng)用測試可供選擇,通過Clarius庫中裝備的450多項(xiàng)應(yīng)用測試,您=可以選擇或修改預(yù)先定義的應(yīng)用測試,加快特性分析速度,或從一開始簡便地創(chuàng)建自定義測試。只需三步,Clarius Software就可以引導(dǎo)新用戶像專家一樣完成參數(shù)分析。
8、實(shí)時結(jié)果和參數(shù),自動數(shù)據(jù)顯示、算法分析和實(shí)時參數(shù)提取功能,加快獲得所需信息的速度。不必?fù)?dān)心數(shù)據(jù)丟失,因?yàn)樗袣v史數(shù)據(jù)都會保存下來。
9、無需示波器檢驗(yàn)脈沖測量,脈沖定時預(yù)覽模式可以簡便地查看脈沖定時參數(shù),確認(rèn)脈沖式I-V測試按希望的方式執(zhí)行。使用瞬態(tài)I-V或波形捕獲模式,進(jìn)行基于時間的電流或電壓測量,而無需使用外部示波器。
MOSFET, BJT 晶體管;材料特性分析;非易失性存儲設(shè)備;電阻率系數(shù)和霍爾效應(yīng)測量;NBTI/PBTI;III-V 族器件;失效分析;納米器件;二極管和 pn 聯(lián)結(jié);太陽能電池;傳感器;MEMS器件;電化學(xué);LED和OLED。