深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司
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Keysight高清晰度示波器
探針臺(tái)|全自動(dòng)探針臺(tái)|硅光晶圓測(cè)試系統(tǒng)|半自動(dòng)探針臺(tái)|手動(dòng)探針臺(tái)|國(guó)產(chǎn)探針臺(tái)|Hanwa ESD/ TLP測(cè)試儀|CDM測(cè)試機(jī)|晶圓級(jí)ESD測(cè)試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測(cè)試設(shè)備、滿足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于：WAT/CP測(cè)試、I-V／C-V測(cè)試、RF/mmW測(cè)試、高壓/大電流測(cè)試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測(cè)試、光電器件測(cè)試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級(jí)失效分析、芯片ESD測(cè)試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗(yàn)證、封裝測(cè)試等領(lǐng)域
8 GHz帶寬
4個(gè)模擬和16個(gè)數(shù)字通道
借助我們先進(jìn)的系統(tǒng)架構(gòu)，實(shí)現(xiàn)高達(dá)16位的垂直分辨率
以最大20 GSa / s的采樣率和100 Mpts /通道的標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)存捕獲更長(zhǎng)的信號(hào)軌跡
在全帶寬下，平均系統(tǒng)ENOB為8.1位，從而獲得卓越的信號(hào)完整性
支持多點(diǎn)觸摸的15英寸電容觸摸屏和固態(tài)驅(qū)動(dòng)器提高了可用性，可實(shí)現(xiàn)快速啟動(dòng)和可靠性
使用廣泛的協(xié)議，合規(guī)性和分析軟件來(lái)改善測(cè)試
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