深圳市易捷測試技術(shù)有限公司
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手動(dòng)探針臺(tái)|直流射頻晶圓級測試探針臺(tái)|12英寸探針臺(tái)
探針臺(tái)|全自動(dòng)探針臺(tái)|硅光晶圓測試系統(tǒng)|半自動(dòng)探針臺(tái)|手動(dòng)探針臺(tái)|國產(chǎn)探針臺(tái)|Hanwa ESD/ TLP測試儀|CDM測試機(jī)|晶圓級ESD測試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測試設(shè)備、滿足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于：WAT/CP測試、I-V／C-V測試、RF/mmW測試、高壓/大電流測試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測試、光電器件測試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級失效分析、芯片ESD測試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗(yàn)證、封裝測試等領(lǐng)域
TS300-SE 12英寸手動(dòng)探針臺(tái)
產(chǎn)品特點(diǎn)： 1，單機(jī)多應(yīng)用設(shè)計(jì)
2，MPI ShielDEnvironment? 屏蔽環(huán)境
3，工效學(xué)設(shè)計(jì)及彈性選配
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設(shè)備簡介： MPI TS300-ShielDEnvironment?（TS300-SE）旨在確保在-60至+ 300°C的溫度范圍內(nèi)對300 mm晶圓提供高級EMI / RFI /不透光屏蔽，超低噪聲，低泄漏測量功能。它以最佳高度與防震臺(tái)結(jié)合在一起，使日常操作非常方便。 |
機(jī)臺(tái)特征：
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