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HED-N5000|多管腳高性能全自動(dòng)靜電放電測(cè)試機(jī)
探針臺(tái)|全自動(dòng)探針臺(tái)|硅光晶圓測(cè)試系統(tǒng)|半自動(dòng)探針臺(tái)|手動(dòng)探針臺(tái)|國產(chǎn)探針臺(tái)|Hanwa ESD/ TLP測(cè)試儀|CDM測(cè)試機(jī)|晶圓級(jí)ESD測(cè)試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測(cè)試設(shè)備、滿足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于：WAT/CP測(cè)試、I-V／C-V測(cè)試、RF/mmW測(cè)試、高壓/大電流測(cè)試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測(cè)試、光電器件測(cè)試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級(jí)失效分析、芯片ESD測(cè)試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗(yàn)證、封裝測(cè)試等領(lǐng)域
最大可進(jìn)行8個(gè)器件的測(cè)試。最大測(cè)試管腳數(shù)1024Pin 雖然有一定的限制，但是可以復(fù)數(shù)同時(shí)印加 是滿足日本、國際規(guī)格的高可靠性設(shè)備 (滿足JEITA/ESDA/JEDEC規(guī)格) 可用于閂鎖測(cè)試，并適用脈沖電流法·電源過電壓·ESD印加法 也可通過DC測(cè)試判斷pass/fail，以及作為可添加選項(xiàng)，可以利用向量來進(jìn)行功能測(cè)試。
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