深圳市易捷測試技術有限公司
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地址:深圳市福田區(qū)福虹路9號世貿廣場C座1203室
東京精密TSK全自動探針臺-FP2000/FP3000
探針臺|全自動探針臺|硅光晶圓測試系統(tǒng)|半自動探針臺|手動探針臺|國產(chǎn)探針臺|Hanwa ESD/ TLP測試儀|CDM測試機|晶圓級ESD測試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測試設備、滿足實驗室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應用于:WAT/CP測試、I-V/C-V測試、RF/mmW測試、高壓/大電流測試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測試、光電器件測試(硅光、CMOS,SPAD傳感器等)、晶圓級失效分析、芯片ESD測試、半導體工藝可靠性驗證、封裝測試等領域
FP2000自動傳輸和支撐薄晶片、單晶片和安裝在切割框架上的CSP(芯片尺寸包)基板。此外,也可以探測常規(guī)的晶片。FP2000配備了新開發(fā)的模具位置校正軟件,自動晶片對準功能和自動探針對墊對準。操作和連接測試儀就像傳統(tǒng)的探器。
主要的配置選項:
Multiple Die Probing | Wafer ID Reader(Front/Back) | ||
Needle Cleaning | Various Supplier's Testing Head adoptable | ||
GP-IB Interface | Re-probing | ||
PMI:Probe-mark Inspection | Network connection | ||
Printer | Color Camera | ||
Barcode Reader | Flat Loader |