深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司
聯(lián)系我們
深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司
電話：0755-83698930
郵箱：dongni.zhang@gbit.net.cn
地址：深圳市福田區(qū)福虹路9號(hào)世貿(mào)廣場(chǎng)C座1203室
關(guān)注我們
深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司
電話：0755-83698930
郵箱：dongni.zhang@gbit.net.cn
地址：深圳市福田區(qū)福虹路9號(hào)世貿(mào)廣場(chǎng)C座1203室
GBITEST硅光晶圓級(jí)測(cè)試系統(tǒng)用于在晶圓級(jí)進(jìn)行有效分析和篩選硅光芯片性能，幫忙用戶提高硅光測(cè)試效率，降低測(cè)試成本，節(jié)省研發(fā)時(shí)間。
1）易捷測(cè)試自主研發(fā)的GBITEST自動(dòng)測(cè)試集成軟件，實(shí)現(xiàn)探針臺(tái)與多種測(cè)試儀表的集成，硅光測(cè)試應(yīng)用版本可實(shí)現(xiàn)晶圓級(jí)硅光芯片的自動(dòng)測(cè)試。
2）可選最大200mm或300mm晶圓測(cè)試探針臺(tái)，支持多種類的硅光測(cè)試應(yīng)用(O-O, O-E, E-O, E-E)
3）高精度快速多通道光學(xué)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)，提供單光纖和光纖陣列耦合方案，保證耦合精度和重復(fù)性。
4）提供業(yè)界最寬的-50°C~200°C硅光晶圓測(cè)試溫控范圍，以及專利的針座平臺(tái)開(kāi)口式負(fù)溫測(cè)試設(shè)計(jì)。
5）獨(dú)特的防撞和測(cè)高機(jī)制，可確保安全操作
6）創(chuàng)新的測(cè)試工具概念可極大滿足用戶現(xiàn)場(chǎng)靈活多樣的測(cè)試需求，實(shí)現(xiàn)完整的參數(shù)測(cè)試內(nèi)容和多領(lǐng)域在片測(cè)試應(yīng)用。
7）便捷的載片臺(tái)移動(dòng)控制，專業(yè)的可視化界面、向?qū)降牟僮髦敢涂赏献降木幊谭绞剑岣邷y(cè)試工程師的測(cè)試效率。
應(yīng)用：
數(shù)據(jù)處理光通信硅光芯片測(cè)試、硅光集成電路晶圓級(jí)測(cè)試、光子集成電路晶圓測(cè)試
深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司
地址：深圳市福田區(qū)福虹路9號(hào)世貿(mào)廣場(chǎng)C座1203室
郵箱：dongni.zhang@gbit.net.cn
電話：0755-83698930