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Keysight 光波元器件分析儀LCA| N4373E
探針臺|全自動探針臺|硅光晶圓測試系統(tǒng)|半自動探針臺|手動探針臺|國產(chǎn)探針臺|Hanwa ESD/ TLP測試儀|CDM測試機|晶圓級ESD測試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測試設(shè)備、滿足實驗室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于：WAT/CP測試、I-V／C-V測試、RF/mmW測試、高壓/大電流測試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測試、光電器件測試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級失效分析、芯片ESD測試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗證、封裝測試等領(lǐng)域
光波元器件分析儀是測試 10Gb/s 和 40Gb/s 電光元器件、光纖通道、有線電視傳輸系統(tǒng)、光載無線電和航空航天與國防等應(yīng)用中的所有相關(guān)光電元器件 S 參數(shù)（例如 S21、S11 和 S22）的首選儀器。
光波元器件分析儀可測量 PIN 二極管、APD、LiNbO3 和電吸收調(diào)制器以及調(diào)制激光源的電光 S21 響應(yīng)度。
根據(jù)這一測量結(jié)果，LCA 可以確定絕對響應(yīng)度、3 dB 截止頻率以及相對和絕對群時延。
通過高絕對精度的響應(yīng)度測量，比較不同位置的測量結(jié)果
完整的解決方案可以推動產(chǎn)品快速上市
校準(zhǔn)速度快而且簡單易用，可以實現(xiàn)高生產(chǎn)率
測量精度可溯源至國際標(biāo)準(zhǔn)，實現(xiàn)出色的可靠性
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