深圳市易捷測試技術(shù)有限公司
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67GHz 射頻探針直流/高壓/射頻/光電探針-T67探針
探針臺|全自動探針臺|硅光晶圓測試系統(tǒng)|半自動探針臺|手動探針臺|國產(chǎn)探針臺|Hanwa ESD/ TLP測試儀|CDM測試機|晶圓級ESD測試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測試設備、滿足實驗室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應用于：WAT/CP測試、I-V／C-V測試、RF/mmW測試、高壓/大電流測試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測試、光電器件測試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級失效分析、芯片ESD測試、半導體工藝可靠性驗證、封裝測試等領域
TITAN?探針實現(xiàn)了基于微同軸電纜的探針技術(shù)與MEMS制成的探針頭的獨特結(jié)合。共面探針尖端的特性阻抗完美匹配，并且從整個探針到被測器件（DUT）的焊盤之間的信號傳輸均經(jīng)過優(yōu)化，可提供出色的探針電氣特性。同時，探針尖端的獨特設計可在任何類型的墊金屬化材料上提供最少的探針前滑，從而在110 GHz的頻率范圍內(nèi)實現(xiàn)準確且可重復的測量。TITAN?探頭適用于在小焊盤上進行探測，且探頭壽命長且擁有成本低。
TITAN?探頭系列包含用于RF和毫米波IC的工程和設計調(diào)試的雙探頭以及用于高達110 GHz的S參數(shù)表征的高端毫米波范圍探頭，用于高性能微波設備的建模。
產(chǎn)品型號： | T67 |
測試類型： | 射頻 |
頻率范圍： | DC~67GH |
針尖距離： | 50 μm至250 μm |
溫度范圍： | -60 to 175 °C |
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