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國產(chǎn)研發(fā)型8英寸硅光手動探針臺
探針臺|全自動探針臺|硅光晶圓測試系統(tǒng)|半自動探針臺|手動探針臺|國產(chǎn)探針臺|Hanwa ESD/ TLP測試儀|CDM測試機|晶圓級ESD測試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測試設備、滿足實驗室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應用于：WAT/CP測試、I-V／C-V測試、RF/mmW測試、高壓/大電流測試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測試、光電器件測試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級失效分析、芯片ESD測試、半導體工藝可靠性驗證、封裝測試等領域
型號:GBITEST-200-SiPH8英寸硅光測試手動探針臺硅光探針臺應用：該探針臺包含硅光芯片的DC&RF&OO測試所需的完整配置，在短時間內(nèi)可準確地完成芯片的參數(shù)測試與提取。XY行程快速定位行程：210mm×210mm； 精調(diào)行程： 210mm×210mm ，精調(diào)分辨率：≤ 1.0 μm；驅(qū)動方式：手動Z軸行程10mm；驅(qū)動方式：手動 Theta旋轉(zhuǎn)快速旋轉(zhuǎn)角度：360°；精調(diào)角度：±15°，精調(diào)分辨率：＜0.02°；驅(qū)動方式：手動Chuck臺尺寸:203mm(8inch)
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