深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司
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CDM ESD測(cè)試是一種檢測(cè)半導(dǎo)體芯片在充電后與導(dǎo)體接觸時(shí)的靜電放電抗擾度的方法。它通常在半導(dǎo)體制造的最后階段進(jìn)行,以確保芯片的性能和可靠性。CDM ESD測(cè)試的目的是防止靜電損壞芯片的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和電路,導(dǎo)致功能失效或參數(shù)變化。
CDM ESD測(cè)試設(shè)備是用于檢測(cè)半導(dǎo)體器件在充電后與導(dǎo)體接觸時(shí)的靜電放電抗擾度的設(shè)備,它可以模擬制造和裝配過程中可能發(fā)生的ESD事件,以確保器件的性能和可靠性。
ESD-CDM測(cè)試系統(tǒng)優(yōu)勢(shì):
符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):HANWA CDM ESD測(cè)試設(shè)備可以按照所有常用的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行FICDM(空氣放電)測(cè)試或CCDM(接觸)測(cè)試,例如JS-002,JEDEC,ESDA,AEC等。這樣可以保證測(cè)試的一致性和可比性,避免不同的測(cè)試方法導(dǎo)致不同的結(jié)果和判斷。
高性能和高可靠性:HANWA CDM ESD測(cè)試設(shè)備具有高性能和高可靠性的特點(diǎn),例如測(cè)試電壓最高可達(dá)4KV3,短路放電電路可以最大限度地減小電感和電容對(duì)數(shù)據(jù)的影響1,CCD攝像機(jī)可以提供清晰的圖像2,DC測(cè)試和向量功能測(cè)試可以提供更多的信息3。這些特點(diǎn)可以提高測(cè)試的準(zhǔn)確性和效率,降低測(cè)試的成本和時(shí)間。
簡(jiǎn)單易用:HANWA CDM ESD測(cè)試設(shè)備具有簡(jiǎn)單易用的特點(diǎn),例如硬件軟件的使用操作簡(jiǎn)單,容易上手3,可以快速轉(zhuǎn)換不同標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試1,可以根據(jù)測(cè)試管腳數(shù)和測(cè)試用途來選擇型號(hào)。這些特點(diǎn)可以提高測(cè)試的便利性和靈活性,適應(yīng)不同的用戶需求和場(chǎng)景。