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噪聲參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
探針臺(tái)|全自動(dòng)探針臺(tái)|硅光晶圓測(cè)試系統(tǒng)|半自動(dòng)探針臺(tái)|手動(dòng)探針臺(tái)|國(guó)產(chǎn)探針臺(tái)|Hanwa ESD/ TLP測(cè)試儀|CDM測(cè)試機(jī)|晶圓級(jí)ESD測(cè)試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測(cè)試設(shè)備、滿足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于：WAT/CP測(cè)試、I-V／C-V測(cè)試、RF/mmW測(cè)試、高壓/大電流測(cè)試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測(cè)試、光電器件測(cè)試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級(jí)失效分析、芯片ESD測(cè)試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗(yàn)證、封裝測(cè)試等領(lǐng)域
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
Maury 噪聲參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的噪聲系數(shù)是衡量低噪聲器件或者噪聲放大器噪聲特性常用的品質(zhì)因素，降低噪聲系數(shù)可以減小噪聲對(duì)系統(tǒng)信噪比造成的影響，描述變化關(guān)系引入噪聲參數(shù)來(lái)表征噪聲器件的特性的測(cè)試系統(tǒng)。
系統(tǒng)說(shuō)明：
Maury的噪聲參數(shù)測(cè)量系統(tǒng)集成了噪聲接收機(jī)，阻抗調(diào)配器，網(wǎng)絡(luò)分析儀，系統(tǒng)測(cè)量軟件以及相應(yīng)的噪聲輸入和輸出模塊，其中輸入和輸出噪聲模塊(Noise Switch Module和Noise Receiver Module)在緊湊的空間內(nèi)集成了低噪放(NRM)，下變頻器件(對(duì)于毫米波頻段)，T型偏置和開(kāi)關(guān)，與PNA-X或者是噪聲分析儀只需要直接連接即可以簡(jiǎn)便地完成整個(gè)系統(tǒng)的搭建，同時(shí)內(nèi)置的LNA模塊可以將系統(tǒng)噪聲接收機(jī)噪聲系統(tǒng)降低5~6 dB，大大增加系統(tǒng)的測(cè)量準(zhǔn)確性和可靠性，為用戶超快速且精準(zhǔn)地完成噪聲參數(shù)測(cè)試。
1、系統(tǒng)的測(cè)量性和可靠性大大提高
2、測(cè)試所需時(shí)間較短且精準(zhǔn)度高
主要適用于衡量低噪聲器件或者噪聲放大器噪聲特性。
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