深圳市易捷測試技術有限公司
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電話：0755-83698930
郵箱：dongni.zhang@gbit.net.cn
地址：深圳市福田區(qū)福虹路9號世貿(mào)廣場C座1203室
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高低溫探針臺| 12英寸半自動探針臺|直流射頻晶圓測試設備
探針臺|全自動探針臺|硅光晶圓測試系統(tǒng)|半自動探針臺|手動探針臺|國產(chǎn)探針臺|Hanwa ESD/ TLP測試儀|CDM測試機|晶圓級ESD測試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測試設備、滿足實驗室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應用于：WAT/CP測試、I-V／C-V測試、RF/mmW測試、高壓/大電流測試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測試、光電器件測試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級失效分析、芯片ESD測試、半導體工藝可靠性驗證、封裝測試等領域
TS3000-SE 半自動300mm探針臺
產(chǎn)品特點：
1，多種晶圓測量應用
模塊量測 - DC-IV, DC-CV, Pulse-IV, ESD, 1/f
射頻和毫米波 - 26 GHz 至 110 GHz 及以上
可靠性測試 - 精確的壓力測試
先進的測試控制軟件套件
2，ShielDEnvironment? 屏蔽環(huán)境
專為 EMI / RFI / Light-tight 屏蔽所設計的精密量測環(huán)境，以得到最佳的 1/f 超低噪測試結果
支援 fA 級超低噪 IV 量測
可編程的顯微鏡滑臺實現(xiàn)自動化之簡便操作
具配置彈性的溫度可量測范圍 -60 °C 至 300 °C
3，工效學設計及彈性選配
簡易便利的前門單晶圓/待測物上片設計
內(nèi)建防震系統(tǒng)
完整的硬件操控整合，方便更快速安全的量測操作
安全測試管理系統(tǒng) (Safety Test Management, STM?)
選配具自動進行露點控制功能
預留制冷機組空間，節(jié)省空間不占位
儀器架選配，可縮短射頻電纜之架設長度，提供最高的量測機能
設備簡介：
TS3000-SE是TS3000探針臺系統(tǒng)的進一步開發(fā)，配備MPI ShielDEnvironment?，可實現(xiàn)超低噪聲，極其精確和高度可靠的DC / CV，1 / f，RTS和RF測量，主要滿足設備的需求表征， 晶圓級可靠性以及RF和mmW 應用。獨特的主動冷卻探頭壓板設計可在-60°C至300°C的寬溫度范圍內(nèi)提供最大的穩(wěn)定性，使TS3000-SE探頭系統(tǒng)成為在不同熱條件下測試設備的絕佳選擇。
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