深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司
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Hanwa HED-S5000R最高256pin ESD測(cè)試儀
探針臺(tái)|全自動(dòng)探針臺(tái)|硅光晶圓測(cè)試系統(tǒng)|半自動(dòng)探針臺(tái)|手動(dòng)探針臺(tái)|國(guó)產(chǎn)探針臺(tái)|Hanwa ESD/ TLP測(cè)試儀|CDM測(cè)試機(jī)|晶圓級(jí)ESD測(cè)試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測(cè)試設(shè)備、滿足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于：WAT/CP測(cè)試、I-V／C-V測(cè)試、RF/mmW測(cè)試、高壓/大電流測(cè)試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測(cè)試、光電器件測(cè)試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級(jí)失效分析、芯片ESD測(cè)試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗(yàn)證、封裝測(cè)試等領(lǐng)域
Hanwa HED-S5000R全自動(dòng)HBM/MM/Latch-up測(cè)試機(jī)（256pin）
通過(guò)與曲線示蹤劑的連接，該測(cè)試儀可以做出破壞判斷。
◆在該功能中，升級(jí)為自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是可能的。
◆從以下型號(hào)中選擇測(cè)試引腳編號(hào)和測(cè)試應(yīng)用程序。
產(chǎn)品特點(diǎn)；
單放電電路：全新專用機(jī)械GND設(shè)置超低寄生電感和電容
最大256引腳
可與各種標(biāo)準(zhǔn)波形配合使用這種高品質(zhì)的系統(tǒng)符合多項(xiàng)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn) ：包括JEDEC、ESDA、AEC和JEITA
能與閉鎖檢測(cè)一起使用碼操作簡(jiǎn)可靠，
測(cè)試程序更短
技術(shù)優(yōu)勢(shì)：
1、可以通過(guò)連接曲線圖示儀來(lái)輕松地判斷pass/fail
2、可根據(jù)測(cè)試管腳數(shù)以及測(cè)試用途來(lái)選擇型號(hào)
主要應(yīng)有于HBM、MM、Latch-up方面。
設(shè)備名稱：ESD閂鎖測(cè)試系統(tǒng)
設(shè)備型號(hào)： HED-S5000R/HED-C5000R
廠 家：HANWA ELECTRONICIND.CO.,LTD
設(shè)備編號(hào)：18503446
設(shè)備分類：可靠性測(cè)試
設(shè)備功能簡(jiǎn)介：
模擬人體模式（HBM）、機(jī)器模式（MM）以及器件充電模式（CDM）對(duì)樣品進(jìn)行靜電敏感度的測(cè)試，同時(shí)具備Latch up的測(cè)試功能。
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