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連續(xù)流探針臺(tái)
探針臺(tái)|全自動(dòng)探針臺(tái)|硅光晶圓測(cè)試系統(tǒng)|半自動(dòng)探針臺(tái)|手動(dòng)探針臺(tái)|國(guó)產(chǎn)探針臺(tái)|Hanwa ESD/ TLP測(cè)試儀|CDM測(cè)試機(jī)|晶圓級(jí)ESD測(cè)試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測(cè)試設(shè)備、滿足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于：WAT/CP測(cè)試、I-V／C-V測(cè)試、RF/mmW測(cè)試、高壓/大電流測(cè)試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測(cè)試、光電器件測(cè)試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級(jí)失效分析、芯片ESD測(cè)試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗(yàn)證、封裝測(cè)試等領(lǐng)域
探針臺(tái)采用模塊化設(shè)計(jì)，滿足廣泛的實(shí)驗(yàn)需求， GCP-CPX 低溫探針臺(tái)是易捷測(cè)試提供的一款通用高 性 能設(shè)備，出廠時(shí)可根據(jù)客戶需求配置成液氦制冷或 者液氮制冷。各種選件根據(jù)研究人員需要選擇，能滿 足絕大多數(shù)實(shí)驗(yàn)需求。GCP-CPX 有多層防輻射罩(液 氦和液氮防輻射罩不同)有利于減少熱輻射，確保樣 品溫度低于5K (液氦)。安裝多個(gè)溫度傳感器，保證 溫度測(cè)量準(zhǔn)確性以及重復(fù)性。樣品處于真空環(huán)境中， 確保一些親水性材料表面不冷凝，選件可實(shí)現(xiàn)樣品從 制備到測(cè)量完全處于真空環(huán)境中。GCP-CPX 可以使用 液氮和液氦兩種低溫液體，根據(jù)客戶需求出廠時(shí)配置 好
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