深圳市易捷測試技術有限公司
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HANWA 桌上便攜式ESD測試機 HCE-5000
探針臺|全自動探針臺|硅光晶圓測試系統|半自動探針臺|手動探針臺|國產探針臺|Hanwa ESD/ TLP測試儀|CDM測試機|晶圓級ESD測試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測試設備、滿足實驗室研發(fā)和晶圓廠量產的多種需求。廣泛應用于:WAT/CP測試、I-V/C-V測試、RF/mmW測試、高壓/大電流測試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測試、光電器件測試(硅光、CMOS,SPAD傳感器等)、晶圓級失效分析、芯片ESD測試、半導體工藝可靠性驗證、封裝測試等領域
芯片ESD(靜電放電)測試是在半導體可靠性測試/失效分析期間進行。ESD測試對于半導體設計的開發(fā)和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是必不可少的。
Hanwa HCE-5000:
超緊湊型便攜式ESD測試機 (HBM,MM,HMM)測試儀
l 獨立的測試系統,攜帶方便,空間占用率小,性價比高
l 不用搭配其他PC或Curve tracer便可獨立完成HBM、MM和漏電測試
l 適用于現場測試。配有曲線跟蹤器,用于通過/失敗判斷,推薦給IC制造商和最終用戶。
Hanwa緊湊型ESD測試儀是獨站的ESD測試系統,設計改進為緊湊、靈活性和可攜帶的桌上設備。從而節(jié)少了空間和成本。能夠操作HBM、MM和泄露測量,無需PC和曲線追蹤劑。 |