TS3500 和 TS3500-SE 在功能上等同于 知名且成熟的 TS3000 和 TS3000-SE 300 mm 探針臺,通過配置獨特的 WaferWallet 或 WaferWallet??MAX 進(jìn)行升級,增加了全自動功能。 MPI 的解決方案通過以低于其他供應(yīng)商的半自動化產(chǎn)品的價格提供完全自動化來降低客戶的總體測試成本。
它結(jié)合了探針臺先進(jìn)技術(shù),如PHC?,作為標(biāo)準(zhǔn)功能,mDrive?和/或VCE?可選或作為現(xiàn)場升級。

| IcefreeenVironment?
結(jié)合MPI IcefreeenVironment?TS3500 -IFE可以在-60°C至 +300°C的寬溫度范圍內(nèi)同時使用微尖和探測卡進(jìn)行測試。 該設(shè)計縮短了信號路徑,從而使探針站成為MMW和/或負(fù)載扣用應(yīng)用的理想選擇。 | 
| Shieldenvironment?
MPI Shieldenvironment?是一個高性能的本地環(huán)境室,為超低噪聲,低電容測量值提供出色的EMI-和輕屏蔽測試環(huán)境。 易于與市場上最好的Emi-和Light Shifting一起重新配置,即MPI ShieldCap? - 很多小事情,這些事情在簡化日常操作方面會有所不同。 |

| Waferwallet?
在建模和新技術(shù)開發(fā)過程中設(shè)備表征的常見實踐是通過極為準(zhǔn)確的IV-CV,1/F,RF,MMW和負(fù)載PULL測量來從典型的少數(shù)晶片中提取數(shù)據(jù)。
MPI的Waferwallet?擴(kuò)展了TS3500系列自動化,而無需損害測量能力。 Waferwallet?設(shè)計有五個單獨的托盤用于手動,人體工程學(xué)負(fù)載為150、200或300 mm“建模”晶片?,F(xiàn)在可以在不同溫度下進(jìn)行多達(dá)五個相同的晶圓的完全自動化測試。 | 

| 冷熱晶圓的交換
在晶圓加載和卸載過程中,不再需要將Chuck返回環(huán)境。借助Waferwallet?,MPI通過荷載/卸載晶片的獨特能力提供寶貴的時間節(jié)省,而Chuck仍保持在任何測試溫度。 |

| WAFERWALLET?MAX
MPI的Waferwallet?Max很容易升級,可以解決更快的市場需求,從而收集來自多個150或200或300 mm半標(biāo)準(zhǔn)盒式盒式盒子的數(shù)據(jù)。 包括前對準(zhǔn)器和盒式盒式掃描儀,可選的頂部或底部晶圓ID讀取器以及全自動曝光控件的高級對齊技術(shù),Waferwallet?max也可以作為全自動測量值的選項。 | 
| Waferwallet?Ultra
MPI的Waferwallet?Ultra是負(fù)載端口,專為生產(chǎn)測試環(huán)境中所需的自動化材料處理系統(tǒng)(AMHS)而設(shè)計300毫米FOUP自動加載/卸載,尤其是在測試PIC(光子集成電路)設(shè)備時。與所有其他MPIWaferWallet?選項一樣,可以購買Waferwallet?Ultra,以新系統(tǒng)的方式購買,也可以作為簡單的字段升級到現(xiàn)有的TS3500系列系統(tǒng),從而為客戶的現(xiàn)有系統(tǒng)增加了價值。 WAFERWALLET?ULTRA包括Foup晶圓掃描儀,預(yù)先對準(zhǔn)的晶圓,200mm盒式磁帶插件和可選的RF ID讀取器,可在AMHS上進(jìn)行自動識別。 |

| 測試自動化
簡單且具有成本效益的手動墊子內(nèi)晶片對齊方式通過Notch指示燈使初始晶圓加載快速可靠。取決于操作方法,其他選項包括TS3500-SE上的晶圓前一致性,ID讀取器或PTPA功能,是增加自動化水平的其他功能。 | 
| Celadon的Indexer?
來自Celadon的專利索引?是該行業(yè)的第一個自動變量,最多5個探測卡更換器。與Waferwallet?(最多5個Wafers)或Waferwallet?max(最多25晶片)的組合提供了無與倫比的靈活性和自動化,用于高級設(shè)備建模和晶圓級別的可靠性測量。
在任何品種和配置上,都可以使用Advanced Cantilever?技術(shù)支持多達(dá)五個VC20? 卡更換在幾秒鐘內(nèi)完成 完全可編程和Sentio?集成 與TS3500系列上的離軸探測器對pad對準(zhǔn)(PTPA)兼容 測試了成千上萬的觸地得分 |
Sentio?儀表板
MPI的Sentio?3.0軟件套件,具有高級GUI設(shè)計的基于革命性的專利技術(shù):
多點觸摸,直觀的操作 單窗口GUI,就像常見的移動設(shè)備一樣 簡化導(dǎo)航的系統(tǒng)狀態(tài)的儀表板視圖 智能,可預(yù)測的運營指導(dǎo) 探測站一生的免費升級
借助Waferwallet?Dashboard的簡單視圖,操作員可以識別已加載或空托盤,晶圓直徑 (150或200或300毫米),扁平/缺口方向,晶圓ID(如果適用),測試的晶片狀百分比等等。 | 
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