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HCI/BTI/TDDB/DCEM 封裝級(jí)可靠性測(cè)試系統(tǒng)
探針臺(tái)|全自動(dòng)探針臺(tái)|硅光晶圓測(cè)試系統(tǒng)|半自動(dòng)探針臺(tái)|手動(dòng)探針臺(tái)|國(guó)產(chǎn)探針臺(tái)|Hanwa ESD/ TLP測(cè)試儀|CDM測(cè)試機(jī)|晶圓級(jí)ESD測(cè)試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測(cè)試設(shè)備、滿(mǎn)足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于：WAT/CP測(cè)試、I-V／C-V測(cè)試、RF/mmW測(cè)試、高壓/大電流測(cè)試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測(cè)試、光電器件測(cè)試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級(jí)失效分析、芯片ESD測(cè)試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗(yàn)證、封裝測(cè)試等領(lǐng)域
Pluto HCI/BTI/TDDB/DCEM 封裝級(jí)可靠性測(cè)試系統(tǒng)，涵蓋符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的測(cè)試要求，如 HCI, BTI, TDDB and DCEM可靠度驗(yàn)證等。
 | HCI/BTI/TDDB/DCEM 封裝級(jí)可靠性測(cè)試系統(tǒng)，涵蓋符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的測(cè)試要求，如 HCI, BTI, TDDB and DCEM可靠度驗(yàn)證等。 |
 | Pluto DCEM 封裝級(jí)可靠性測(cè)試系統(tǒng) |
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