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HCI/BTI封裝級(jí)可靠性測試儀
探針臺(tái)|全自動(dòng)探針臺(tái)|硅光晶圓測試系統(tǒng)|半自動(dòng)探針臺(tái)|手動(dòng)探針臺(tái)|國產(chǎn)探針臺(tái)|Hanwa ESD/ TLP測試儀|CDM測試機(jī)|晶圓級(jí)ESD測試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測試設(shè)備、滿足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于：WAT/CP測試、I-V／C-V測試、RF/mmW測試、高壓/大電流測試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測試、光電器件測試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級(jí)失效分析、芯片ESD測試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗(yàn)證、封裝測試等領(lǐng)域
Star Scorpio HCI/BTI封裝級(jí)別可靠性測試儀配備了JEDEC符合預(yù)期和準(zhǔn)確的MOSFET HCI，NBTI和OTF可靠性資格的測試要求。
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