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CMOS/CIS圖像傳感器測(cè)試系統(tǒng)
探針臺(tái)|全自動(dòng)探針臺(tái)|硅光晶圓測(cè)試系統(tǒng)|半自動(dòng)探針臺(tái)|手動(dòng)探針臺(tái)|國(guó)產(chǎn)探針臺(tái)|Hanwa ESD/ TLP測(cè)試儀|CDM測(cè)試機(jī)|晶圓級(jí)ESD測(cè)試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測(cè)試設(shè)備、滿足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于：WAT/CP測(cè)試、I-V／C-V測(cè)試、RF/mmW測(cè)試、高壓/大電流測(cè)試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測(cè)試、光電器件測(cè)試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級(jí)失效分析、芯片ESD測(cè)試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗(yàn)證、封裝測(cè)試等領(lǐng)域
全球首臺(tái)商用Image Sensor測(cè)量測(cè)試解決方案
適用于半導(dǎo)體領(lǐng)域：IC設(shè)計(jì)、封裝微組裝測(cè)試、模組設(shè)計(jì)
應(yīng)用于：CMOS/ALS、LIDAR
完全符合圖像傳感器測(cè)試國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)EMVA（European Machine Vision Association）
不僅可用來(lái)進(jìn)行物理層面（表現(xiàn)缺陷檢測(cè)）也可以用來(lái)進(jìn)行功能測(cè)試（環(huán)境光下的芯片轉(zhuǎn)換效率好壞） 。SG-A可提供最全面的CMOS圖像傳感器參數(shù)報(bào)告，如全譜量子效率QE、整體系統(tǒng)增益、時(shí)間暗噪聲、信噪比、絕對(duì)靈敏度閾值、飽和容量、動(dòng)態(tài)范圍、DSNU、PRNU、線性誤差和主光線角CRA。
被測(cè)目標(biāo)可以是多種類(lèi)型的CMOS圖像傳感器模塊。SG-A CMOS圖像傳感器測(cè)試儀可用于晶圓級(jí)光學(xué)檢測(cè)、工藝參數(shù)控制、微透鏡設(shè)計(jì)和驗(yàn)證。
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