深圳市易捷測試技術有限公司
深圳市易捷測試技術有限公司
電話:0755-83698930
郵箱:dongni.zhang@gbit.net.cn
地址:深圳市福田區(qū)福虹路9號世貿廣場C座1203室
手動探針臺|實驗室研發(fā)型8英寸探針臺|射頻晶圓級測試探針臺
探針臺|全自動探針臺|硅光晶圓測試系統(tǒng)|半自動探針臺|手動探針臺|國產(chǎn)探針臺|Hanwa ESD/ TLP測試儀|CDM測試機|晶圓級ESD測試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測試設備、滿足實驗室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應用于:WAT/CP測試、I-V/C-V測試、RF/mmW測試、高壓/大電流測試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測試、光電器件測試(硅光、CMOS,SPAD傳感器等)、晶圓級失效分析、芯片ESD測試、半導體工藝可靠性驗證、封裝測試等領域
易捷測試攜手MPI開發(fā)探針臺系統(tǒng),為用戶專業(yè)提供探針臺及所有相關直流/射頻附件以及相關半導體測試整體解決方案。得益于其極高的性價比,廣受國內外用戶的好評。TS150,TS200,TS300是常用的手動式探針臺,簡單,直觀,方便, 并確保 高度準確的測量。
以下是8英寸手動探針臺的特點:
Air-bearing stage-氣浮式樣品臺技術:很多探針臺的廠家通常配備的是傳統(tǒng)的滾珠式/軸承式樣品臺,內部移動是都會產(chǎn)生摩擦,因此存在了響應慢,易損耗,需定期維護(添加潤滑油)等固有缺點。MPI探針臺的載物臺采用最新的氣浮支撐技術,我們成為Air-bearing stage技術。很好解決了傳統(tǒng)的滾珠式/軸承式樣品臺固有缺點,即消除內部摩擦,避免日常使用損耗,免去定期維護等麻煩。并且該設計可以使得樣品臺在移動范圍內360°移動,而不受X/Y導軌限制移動(其他品牌無法同時X/Y移動,只能選一個方向移動)。
b. Platen Lift技術-三段平面式升降及下針:影響探針臺測試結果很大程度上取決于探針與樣品的接觸。MPI采用了三段式(0-300um-3mm)下針并且內置安全鎖(其他廠家是兩段),不僅實現(xiàn)了1um重復性,同時也使得整個下針過程變得十分平緩且平穩(wěn)從而避免了撞針。這大大提升了用戶的體驗,方便了用戶的操作。
c.溫控觸屏設計:MPI手動探針臺可以選配各類樣品臺,包含2英寸、4英寸、6英寸、8英寸樣品臺,及加熱樣品臺(200℃/300℃)。并且配備智能化觸摸屏,可以隨時快速調節(jié)樣品臺加熱問題,實時顯示溫度變化。高精度、便捷的溫度控制功能,便于客戶進行實驗設計和測試。
d. Microscope bridge mount:MPI探針臺具備了Microscope bridge mount,方便用戶自行購置并升級顯微鏡。這點也是其他探針臺所不具備的。對于這類的用戶而言,如果今后要升級顯微鏡,只能從探針臺原廠購買。但是其實探針臺廠家往往并不制造光學顯微鏡。而MPI則更多的為客戶考慮,把顯微鏡的選擇權交在客戶手里。這也是MPI設計了Microscope bridge mount的初衷。
e. 所有核心部件均自行生產(chǎn):諸如主機臺,直流/射頻探針座,直流/射頻線纜及探針等核心部件均為易捷測試技術提供。此外,探針臺的產(chǎn)品線也非常豐富,擁有手動、半自動、全自動、射頻/微波、高功能等所有探針臺系列。