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全功能可靠性測(cè)試系統(tǒng)
探針臺(tái)|全自動(dòng)探針臺(tái)|硅光晶圓測(cè)試系統(tǒng)|半自動(dòng)探針臺(tái)|手動(dòng)探針臺(tái)|國(guó)產(chǎn)探針臺(tái)|Hanwa ESD/ TLP測(cè)試儀|CDM測(cè)試機(jī)|晶圓級(jí)ESD測(cè)試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測(cè)試設(shè)備、滿(mǎn)足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)和晶圓廠(chǎng)量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于：WAT/CP測(cè)試、I-V／C-V測(cè)試、RF/mmW測(cè)試、高壓/大電流測(cè)試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測(cè)試、光電器件測(cè)試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級(jí)失效分析、芯片ESD測(cè)試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗(yàn)證、封裝測(cè)試等領(lǐng)域
STAR全功能測(cè)試系統(tǒng)滿(mǎn)足行業(yè)的可靠性測(cè)試需求，包括熱載子注入(HCI)、偏壓溫度不穩(wěn)定性(BTI)、OTF、時(shí)間相依介電質(zhì)崩潰(TDDB)、電子遷移(EM )、應(yīng)力誘導(dǎo)漏電流（SILC）等等。
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系統(tǒng)組成：
 | Gemini 全功能可靠性測(cè)試系統(tǒng) 是HCI、BTI、TDDB、SILC、電子遷移和應(yīng)力遷移等全功能可靠性測(cè)試系統(tǒng)。
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 | Pluto All-in-one Per-Pin SMU 可靠性測(cè)試系統(tǒng)是一款高端全功能測(cè)試系統(tǒng)，適用在封裝級(jí)與晶圓級(jí)測(cè)試，且涵蓋HCI，BTI，OTF，TDDB 和 EM 等所有可靠性要求。 產(chǎn)品功能： 是次世代的可靠性測(cè)試系統(tǒng)，可提高工程和生產(chǎn)需求的測(cè)量精度和效率。 特點(diǎn)和規(guī)格：
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