深圳市易捷測試技術(shù)有限公司
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地址:深圳市福田區(qū)福虹路9號世貿(mào)廣場C座1203室
高低溫探針臺|8英寸高低溫半自動探針臺TS2000-SE
探針臺|全自動探針臺|硅光晶圓測試系統(tǒng)|半自動探針臺|手動探針臺|國產(chǎn)探針臺|Hanwa ESD/ TLP測試儀|CDM測試機|晶圓級ESD測試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測試設(shè)備、滿足實驗室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于:WAT/CP測試、I-V/C-V測試、RF/mmW測試、高壓/大電流測試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測試、光電器件測試(硅光、CMOS,SPAD傳感器等)、晶圓級失效分析、芯片ESD測試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗證、封裝測試等領(lǐng)域
MPI TS2000-SE 高低溫半自動探針臺
產(chǎn)品特點: 適用于多種晶圓量測應(yīng)用 MPI ShielDEnvironment? 屏蔽環(huán)境 工效學(xué)設(shè)計及彈性選配 |
設(shè)備簡介: MPI探針臺 TS2000-SE是市場上首款晶圓200 mm自動化工程探測系統(tǒng),MPI半自動探針臺集成了專為降低測試成本而設(shè)計的創(chuàng)新功能。這些功能集成在MPI ShielDEnvironment?中,可實現(xiàn)超低噪聲,非常精確和高度可靠的DC / CV,RF和高功率測量。 |