深圳市易捷測(cè)試技術(shù)有限公司
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J7000B系列—抖動(dòng)噪聲發(fā)生器
探針臺(tái)|全自動(dòng)探針臺(tái)|硅光晶圓測(cè)試系統(tǒng)|半自動(dòng)探針臺(tái)|手動(dòng)探針臺(tái)|國(guó)產(chǎn)探針臺(tái)|Hanwa ESD/ TLP測(cè)試儀|CDM測(cè)試機(jī)|晶圓級(jí)ESD測(cè)試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測(cè)試設(shè)備、滿足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于:WAT/CP測(cè)試、I-V/C-V測(cè)試、RF/mmW測(cè)試、高壓/大電流測(cè)試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測(cè)試、光電器件測(cè)試(硅光、CMOS,SPAD傳感器等)、晶圓級(jí)失效分析、芯片ESD測(cè)試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗(yàn)證、封裝測(cè)試等領(lǐng)域
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Noisecom J7000B系列抖動(dòng)噪聲源產(chǎn)生高波峰因子的加性高斯白噪聲,模擬真實(shí)世界的隨機(jī)抖動(dòng)(Random Jitter:Rj)。 隨機(jī)抖動(dòng)通常指的用工業(yè)領(lǐng)域可接受的等級(jí)模型作為參照,抗隨機(jī)抖動(dòng)噪聲能力是大數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)總線和設(shè)備的重要指標(biāo)。如今的高速數(shù)字電路設(shè)計(jì)面臨著窄帶大功率噪聲干擾下的大數(shù)據(jù)率、低誤碼率傳輸?shù)膲毫?,這種壓力隨著頻率和數(shù)據(jù)速率的提升與日俱增。
Noisecom J7000B系列抖動(dòng)噪聲發(fā)生器可以直接向高速數(shù)據(jù)流中加載隨機(jī)抖動(dòng)噪聲,設(shè)計(jì)師通過簡(jiǎn)單的工具比如示波器或者誤碼儀就能評(píng)估其系統(tǒng)設(shè)備的性能,通過加入量化的高斯白噪聲以降低信噪比也能測(cè)試接收機(jī)性能。這些特性能用最小化的時(shí)間成本去做到最大化的系統(tǒng)余量評(píng)估和最大化的系統(tǒng)傳輸速率設(shè)計(jì)。
Noisecom J7000B是單端或者差分設(shè)備的理想質(zhì)量測(cè)試或者性能測(cè)試工具,對(duì)于PAM-4類多個(gè)信號(hào)路徑的設(shè)備,它也可以通過配置去完成測(cè)試。J7000B也用戶接收機(jī)靈敏度測(cè)試:向PC測(cè)試板加入噪聲信號(hào)以量化待測(cè)設(shè)備的抗PC板輻射能力。J7000B提供各種標(biāo)準(zhǔn)頻段的貨架產(chǎn)品,并且支持定制。它可以增加5個(gè)可選配的帶阻濾波器,用以特定串行數(shù)據(jù)的測(cè)試或者計(jì)量。J7000B自帶7英寸的觸摸屏,方便配置和操作,噪聲功率、噪聲開關(guān)、信號(hào)開關(guān)以及噪聲源選擇都可由觸摸屏完成操作,也可以通過以太網(wǎng)或者GPIB選項(xiàng)進(jìn)行遠(yuǎn)程控制,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試,提升效率。