深圳市易捷測試技術(shù)有限公司
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高功率探針臺| TS3000-HP
探針臺|全自動探針臺|硅光晶圓測試系統(tǒng)|半自動探針臺|手動探針臺|國產(chǎn)探針臺|Hanwa ESD/ TLP測試儀|CDM測試機|晶圓級ESD測試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測試設(shè)備、滿足實驗室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于：WAT/CP測試、I-V／C-V測試、RF/mmW測試、高壓/大電流測試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測試、光電器件測試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級失效分析、芯片ESD測試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗證、封裝測試等領(lǐng)域
產(chǎn)品簡介：
TS3000-HP 是 MPI 新的專用探針臺，用于在寬 -60°C 至 +300°C 的溫度范圍和寬 3 kV （三軸） / 10 kV （同軸） 和 600 A 測量范圍的晶圓#HighPower 對高功率芯片特性進行測試。該系統(tǒng)可以選擇在薄晶片或TAIKO晶圓上進行測試。并為超低噪聲測量集成了MPI的 SHIELDEnvironmentTM和WAFERWALLET 。
產(chǎn)品特點：
專為高壓、高電流應(yīng)用而設(shè)計 ? 在晶片大功率設(shè)備上測量高達10kV/600A ? 鍍金卡盤表面的最小接觸電阻和真空孔優(yōu)化的薄晶 圓處理至50μm ? Taiko晶圓殼牌選項 ? 專用的高壓、高電流探頭 ? 抗弧解決方案 | MPI屏蔽環(huán)境? ，用于精確測量 ? 為高級EMI/RFI/光緊屏蔽而設(shè)計 ? FA低泄漏能力 ? 準(zhǔn)備好適應(yīng)溫度范圍-60°C至300°C | 人體工程學(xué)設(shè)計與安全 ? 簡單的晶圓或單個DUT加載從前面 ? 監(jiān)管部門批準(zhǔn)的安全聯(lián)鎖燈簾來保護用戶 ? 集成式主動隔振裝置 ? 完全集成的支撐器控制， 以實現(xiàn)更快、更安全、方 便的系統(tǒng)和測試操作 ? 安全測試管理 (STM?) 選項，可在任何吸管溫度下 加載/卸載晶圓和自動露點控制 |
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