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液氮低溫探針臺
探針臺|全自動探針臺|硅光晶圓測試系統(tǒng)|半自動探針臺|手動探針臺|國產(chǎn)探針臺|Hanwa ESD/ TLP測試儀|CDM測試機|晶圓級ESD測試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測試設備、滿足實驗室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應用于：WAT/CP測試、I-V／C-V測試、RF/mmW測試、高壓/大電流測試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測試、光電器件測試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級失效分析、芯片ESD測試、半導體工藝可靠性驗證、封裝測試等領域
易捷測試液氮探針臺LNPS-80可以對器件進行非破壞性的測試，器件的最大尺寸可達到 80mm。 可以對材料或器件的電學特性、光電特性等效應。進行測量，為DC測量RF測量和微波特性測量 提供一個低溫測試平臺。納米電子材料、量子線、量子點和半導體材料是在探針臺上進行測量 的比較典型的材料 。探針臺系統(tǒng)的探針、測試電纜、樣品臺都有多種類型可供選擇，從而滿足 不同用戶的需要。GCPN-80 的溫度變化范圍從 80K 到425K，系統(tǒng)需要使用液氮實現(xiàn)變溫，防熱輻射屏大大降低了黑體輻射，提高了制冷效率，減少了液氮消耗 。樣品臺上裝有溫度傳感器和 加熱器，實現(xiàn)樣品臺快速變溫以及精準控溫。 易捷測試液氮探針臺LNPS-80具有四個可以進行微調的 探針臂，每個探針臂上的探針都可以進行三維方向上 的精準定位 。探針采用鈹或者鎢制成，針尖直徑 10 微米，減少探針對樣品的熱傳導 。每個探針臂都采用 304 優(yōu)質不銹鋼加G10 制作而成，每個探針臂都進 行有效的熱沉，減小探針臂漏熱進而減少探針對樣品 的漏熱。為了提高系統(tǒng)的實用性和操作性，系統(tǒng)配備 了高放大倍數(shù)的顯微鏡。
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