深圳市易捷測試技術有限公司
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Keysight 半導體參數(shù)分析儀| B1500,B1505A
探針臺|全自動探針臺|硅光晶圓測試系統(tǒng)|半自動探針臺|手動探針臺|國產探針臺|Hanwa ESD/ TLP測試儀|CDM測試機|晶圓級ESD測試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測試設備、滿足實驗室研發(fā)和晶圓廠量產的多種需求。廣泛應用于:WAT/CP測試、I-V/C-V測試、RF/mmW測試、高壓/大電流測試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測試、光電器件測試(硅光、CMOS,SPAD傳感器等)、晶圓級失效分析、芯片ESD測試、半導體工藝可靠性驗證、封裝測試等領域
Keysight B1500A 半導體參數(shù)分析儀是一款一體化器件表征分析儀,能夠測量 IV、CV、脈沖/動態(tài) IV 等參數(shù)。 主機和插入式模塊能夠表征大多數(shù)電子器件、材料、半導體和有源/無源元器件。 B1500A 模塊化體系結構可以根據(jù)需要靈活升級。
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產品特點:
1)廣泛的工作條件與精密測量功能相結合
適合功率器件表征的綜合解決方案,高達 1500 A 和 10 kV
中等電流測量和高電壓偏置(例如,500 mA,1200 V)
μΩ 導通電阻測量功能
高電壓偏置時,可進行精確的 sub-pA 電平電流測量
在 -50 ℃ 至 +250 ℃ 溫度范圍內進行全自動熱測試
2)廣泛的器件測量功能
可在高達 3000 V 直流偏時執(zhí)行全自動電容測量(Ciss、Coss、Crss 等)
10 μs 高功率脈沖測量
封裝器件和晶圓上 IGBT/FET 柵極電荷測量
高電壓/強電流快速切換選件,適用于 GaN 電流崩塌效應表征
多達 5 個高電壓(3 kV)電源/測量通道,提供最大的靈活性
通過互鎖測試夾具執(zhí)行安全的與溫度相關的測試
3)改進的測量效率
在高電壓和強電流測量之間自動切換,無需重新布線
自動測試電路形成,可用于封裝器件和晶圓上器件的晶體管結電容(Ciss、Coss、Crss、Cgs、Cgd、Cds 等)測量
具有互鎖機制的標準測試夾具,可進行封裝功率器件測試
支持高達 200 A 和 10 kV 的高功率晶圓上測試
示波器視圖支持對應用電壓和電流波形的驗證
MS Windows EasyEXPERT 軟件簡化了數(shù)據(jù)管理和分析流程
4)可升級和可擴展的硬件體系結
廣泛的測量模塊選擇
支持具有高達 6 個連接引腳的高功率器件