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國產(chǎn)8英寸手動高壓探針臺
探針臺|全自動探針臺|硅光晶圓測試系統(tǒng)|半自動探針臺|手動探針臺|國產(chǎn)探針臺|Hanwa ESD/ TLP測試儀|CDM測試機|晶圓級ESD測試儀|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性測試設(shè)備、滿足實驗室研發(fā)和晶圓廠量產(chǎn)的多種需求。廣泛應(yīng)用于：WAT/CP測試、I-V／C-V測試、RF/mmW測試、高壓/大電流測試、在片wlr、在片老化burning、高低溫測試、光電器件測試（硅光、CMOS，SPAD傳感器等）、晶圓級失效分析、芯片ESD測試、半導(dǎo)體工藝可靠性驗證、封裝測試等領(lǐng)域
GBITEST-200HP包含高壓芯片測試所需的完整配置，能夠在最短時間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測試要求。提供專業(yè)的測試方案，能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測試。
GBITEST-200HP擁有穩(wěn)定且可靠的測試平臺，保證測試中的扎針質(zhì)量。優(yōu)異的光學(xué)系統(tǒng)結(jié)合分辨率＜2μm的針座系統(tǒng)，確保扎針的穩(wěn)定性。在直流應(yīng)用中，GBITST-200HP高品質(zhì)的電纜和三軸信號通路，可使DUT特性分析達(dá)到pA級別；同時，配置的紅外激光幕布功能，可以有效的幫助客戶起到人員防護(hù)等功能，保證測試情況下的安全性。
載物臺的單手快速移動及升降、一體化真空開關(guān)等優(yōu)化設(shè)計使操作流程更加簡潔，不管是初學(xué)者還是經(jīng)驗者，使用起來都非常方便、易懂。
專門為高壓設(shè)計的隔離及防護(hù)裝置，可以有效的防止打火現(xiàn)象，同時可配合擴展所設(shè)計的各種選項，輕松實現(xiàn)如負(fù)載牽引系統(tǒng)、太赫茲系統(tǒng)、抗輻照等系統(tǒng)的搭載，GBITEST-200系統(tǒng)也可根據(jù)您的未來項目需求進(jìn)行重新配置。
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