Shenzhen GBIT Testing Technology Co., Ltd
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EMMI analytical system
A standalone lab based analytical microscope syste...
芯片封裝焊接強(qiáng)度測(cè)試儀
焊接強(qiáng)度測(cè)試儀市場(chǎng)領(lǐng)先,一流焊接強(qiáng)度測(cè)試設(shè)備,成為用戶(hù)首選推拉力測(cè)試設(shè)備,已成為該行業(yè)事實(shí)標(biāo)準(zhǔn)。檢測(cè)...
晶圓光學(xué)檢測(cè)設(shè)備
檢查大尺寸樣品–滿(mǎn)足自動(dòng)化潔凈室的要求從尺寸極小的MEMS傳感器到大尺寸晶圓,甚至整個(gè)平板顯示器,檢...
高端場(chǎng)掃描電鏡
高品質(zhì)成像和先進(jìn)分析功能的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
半導(dǎo)體場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
適用于您高要求亞納米成像、分析和樣品靈活性方面的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
ZEISS 光學(xué)微光顯微鏡
ZEISS顯微鏡產(chǎn)品特點(diǎn):具有優(yōu)化的操作理念。擁有更高襯度和更高分辨率的新型光學(xué)系統(tǒng)。 基于“向前看...
芯片X-ray檢測(cè)系統(tǒng)
榮獲2009年度全球SMT技術(shù)授于的X-ray最佳設(shè)計(jì)獎(jiǎng)